Dielectric and electric properties of tantalum thin oxide film at commercial electrolytic capacitor
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F12%3APU104346" target="_blank" >RIV/00216305:26220/12:PU104346 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Dielectric and electric properties of tantalum thin oxide film at commercial electrolytic capacitor
Popis výsledku v původním jazyce
The complex permittivity of the tantalum oxide capacitor 100 micro-F was measured at room temperature at frequencies from 20 Hz to 2 MHz using the HP (Agilent) E4980A impedance analyzer, with Agilent 16034E 2- terminal test fixture. The tantalum oxide capacitor have max dissipation factor at 120 Hz is 0.005, the real part of the complex permittivity is 27 at 20Hz with one dielectric relaxation peak was observed at about 2 kHz. Higher breakdown fields were observed, and it has been shown that to be useful used below 100 KHz for measuring the dielectric properties of tantalum oxide film and also at electronic application where parasitic are approximately disappears.
Název v anglickém jazyce
Dielectric and electric properties of tantalum thin oxide film at commercial electrolytic capacitor
Popis výsledku anglicky
The complex permittivity of the tantalum oxide capacitor 100 micro-F was measured at room temperature at frequencies from 20 Hz to 2 MHz using the HP (Agilent) E4980A impedance analyzer, with Agilent 16034E 2- terminal test fixture. The tantalum oxide capacitor have max dissipation factor at 120 Hz is 0.005, the real part of the complex permittivity is 27 at 20Hz with one dielectric relaxation peak was observed at about 2 kHz. Higher breakdown fields were observed, and it has been shown that to be useful used below 100 KHz for measuring the dielectric properties of tantalum oxide film and also at electronic application where parasitic are approximately disappears.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Ostatní
Rok uplatnění
2012
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
16th International Student Conference on Electrical Engineering
ISBN
978-80-01-05043-9
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
1-4
Název nakladatele
CTU Prague
Místo vydání
Prague
Místo konání akce
Praha, ČVUT
Datum konání akce
17. 5. 2012
Typ akce podle státní příslušnosti
EUR - Evropská akce
Kód UT WoS článku
—