Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Thermal dependence of light emission from reverse-biased monocrystalline silicon solar cells

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F12%3APU87923" target="_blank" >RIV/00216305:26220/12:PU87923 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Thermal dependence of light emission from reverse-biased monocrystalline silicon solar cells

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The quality and lifetime of solar cells depends critically on both bulk and surface imperfections. When a solar cell is reverse-biased with low voltage, weak emission from imperfections appears. A scanning measurement using a high sensitivity light detection technique utilizing Scanning near-field optical microscope with cooled PMT in the photon counting regime allows non-destructive detection and localization of light-emitting centers originating from imperfections in the cell. We have found that the emission from these imperfections exhibits unique thermal characteristics. As consequence, the thermal characteristics can distinguish among several kinds of imperfections in monocrystalline silicon solar cells.

  • Název v anglickém jazyce

    Thermal dependence of light emission from reverse-biased monocrystalline silicon solar cells

  • Popis výsledku anglicky

    The quality and lifetime of solar cells depends critically on both bulk and surface imperfections. When a solar cell is reverse-biased with low voltage, weak emission from imperfections appears. A scanning measurement using a high sensitivity light detection technique utilizing Scanning near-field optical microscope with cooled PMT in the photon counting regime allows non-destructive detection and localization of light-emitting centers originating from imperfections in the cell. We have found that the emission from these imperfections exhibits unique thermal characteristics. As consequence, the thermal characteristics can distinguish among several kinds of imperfections in monocrystalline silicon solar cells.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2012

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    SOLAR ENERGY MATERIALS AND SOLAR CELLS

  • ISSN

    0927-0248

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    96

  • Číslo periodika v rámci svazku

    1

  • Stát vydavatele periodika

    NL - Nizozemsko

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    108-111

  • Kód UT WoS článku

    000283959500059

  • EID výsledku v databázi Scopus