Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

The Possibility of Capturing Shock Waves by Computer Simulation in Environmental Scanning Electron Microscope

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F13%3APU106119" target="_blank" >RIV/00216305:26220/13:PU106119 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    The Possibility of Capturing Shock Waves by Computer Simulation in Environmental Scanning Electron Microscope

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Environmental scanning electron microscope (ESEM) is one of the latest trends in microscopic methods. In this microscope, we can observe various types of specimens, especially non-conductive and wet specimens. This is given by high pressure of gas in thespecimen chamber. The evaluation of pressure on the secondary electrons trajectory is one of the important parameter in design of scintillation detector of secondary electrons. This article deals with computational modelling of pressure conditions and shock waves generation in the scintillation detector of secondary electrons for this type of microscope.

  • Název v anglickém jazyce

    The Possibility of Capturing Shock Waves by Computer Simulation in Environmental Scanning Electron Microscope

  • Popis výsledku anglicky

    Environmental scanning electron microscope (ESEM) is one of the latest trends in microscopic methods. In this microscope, we can observe various types of specimens, especially non-conductive and wet specimens. This is given by high pressure of gas in thespecimen chamber. The evaluation of pressure on the secondary electrons trajectory is one of the important parameter in design of scintillation detector of secondary electrons. This article deals with computational modelling of pressure conditions and shock waves generation in the scintillation detector of secondary electrons for this type of microscope.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BK - Mechanika tekutin

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/ED0014%2F01%2F01" target="_blank" >ED0014/01/01: Centrum výzkumu a využití obnovitelných zdrojů energie</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2013

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    ElectroScope - http://www.electroscope.zcu.cz

  • ISSN

    1802-4564

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    2013

  • Číslo periodika v rámci svazku

    5

  • Stát vydavatele periodika

    CZ - Česká republika

  • Počet stran výsledku

    5

  • Strana od-do

    1-5

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus