Characterizing SiC-AlN semiconductor solid solutions with indirect and direct bandgaps
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F15%3APU112292" target="_blank" >RIV/00216305:26220/15:PU112292 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1117/12.2070352" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1117/12.2070352</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1117/12.2070352" target="_blank" >10.1117/12.2070352</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Characterizing SiC-AlN semiconductor solid solutions with indirect and direct bandgaps
Popis výsledku v původním jazyce
The objective of the study is dependence of optical properties of solid solution of silicon carbide and aluminum nitride on structure. Even small differences in composition provide manipulation of band gap features in wide range. Data for this paper were collected by X-ray diffraction and by study of photoluminescence and absorption spectra. Evolution of optical properties as a result of composition changing was studied. X-ray study proves the presence of (SiC)1-x(AlN)x solid solution. Investigation of absorption spectra shows that optical band gap of the sample with composition of (SiC)0,88(AlN)0,12 is 3.1 eV and 4.24 eV for (SiC)0,36(AlN)0,64 solid solution. Photoluminescence demonstrates strongly dependence of spectrum on x concentration. The results are in mutual agrement and correspond to the therory. These data allows optimization of optical properties for certain optoelectronic application by control of the (SiC)1-x(AlN)x composition
Název v anglickém jazyce
Characterizing SiC-AlN semiconductor solid solutions with indirect and direct bandgaps
Popis výsledku anglicky
The objective of the study is dependence of optical properties of solid solution of silicon carbide and aluminum nitride on structure. Even small differences in composition provide manipulation of band gap features in wide range. Data for this paper were collected by X-ray diffraction and by study of photoluminescence and absorption spectra. Evolution of optical properties as a result of composition changing was studied. X-ray study proves the presence of (SiC)1-x(AlN)x solid solution. Investigation of absorption spectra shows that optical band gap of the sample with composition of (SiC)0,88(AlN)0,12 is 3.1 eV and 4.24 eV for (SiC)0,36(AlN)0,64 solid solution. Photoluminescence demonstrates strongly dependence of spectrum on x concentration. The results are in mutual agrement and correspond to the therory. These data allows optimization of optical properties for certain optoelectronic application by control of the (SiC)1-x(AlN)x composition
Klasifikace
Druh
J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science
CEP obor
—
OECD FORD obor
20201 - Electrical and electronic engineering
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Ostatní
Rok uplatnění
2015
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Proceedings of SPIE
ISSN
0277-786X
e-ISSN
—
Svazek periodika
9450
Číslo periodika v rámci svazku
9450
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
„94501R-1“-„94501R-6“
Kód UT WoS článku
000349404500061
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-84923036749