Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Characterizing SiC-AlN semiconductor solid solutions with indirect and direct bandgaps

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F15%3APU112292" target="_blank" >RIV/00216305:26220/15:PU112292 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.1117/12.2070352" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1117/12.2070352</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1117/12.2070352" target="_blank" >10.1117/12.2070352</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Characterizing SiC-AlN semiconductor solid solutions with indirect and direct bandgaps

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The objective of the study is dependence of optical properties of solid solution of silicon carbide and aluminum nitride on structure. Even small differences in composition provide manipulation of band gap features in wide range. Data for this paper were collected by X-ray diffraction and by study of photoluminescence and absorption spectra. Evolution of optical properties as a result of composition changing was studied. X-ray study proves the presence of (SiC)1-x(AlN)x solid solution. Investigation of absorption spectra shows that optical band gap of the sample with composition of (SiC)0,88(AlN)0,12 is 3.1 eV and 4.24 eV for (SiC)0,36(AlN)0,64 solid solution. Photoluminescence demonstrates strongly dependence of spectrum on x concentration. The results are in mutual agrement and correspond to the therory. These data allows optimization of optical properties for certain optoelectronic application by control of the (SiC)1-x(AlN)x composition

  • Název v anglickém jazyce

    Characterizing SiC-AlN semiconductor solid solutions with indirect and direct bandgaps

  • Popis výsledku anglicky

    The objective of the study is dependence of optical properties of solid solution of silicon carbide and aluminum nitride on structure. Even small differences in composition provide manipulation of band gap features in wide range. Data for this paper were collected by X-ray diffraction and by study of photoluminescence and absorption spectra. Evolution of optical properties as a result of composition changing was studied. X-ray study proves the presence of (SiC)1-x(AlN)x solid solution. Investigation of absorption spectra shows that optical band gap of the sample with composition of (SiC)0,88(AlN)0,12 is 3.1 eV and 4.24 eV for (SiC)0,36(AlN)0,64 solid solution. Photoluminescence demonstrates strongly dependence of spectrum on x concentration. The results are in mutual agrement and correspond to the therory. These data allows optimization of optical properties for certain optoelectronic application by control of the (SiC)1-x(AlN)x composition

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20201 - Electrical and electronic engineering

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2015

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Proceedings of SPIE

  • ISSN

    0277-786X

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    9450

  • Číslo periodika v rámci svazku

    9450

  • Stát vydavatele periodika

    US - Spojené státy americké

  • Počet stran výsledku

    6

  • Strana od-do

    „94501R-1“-„94501R-6“

  • Kód UT WoS článku

    000349404500061

  • EID výsledku v databázi Scopus

    2-s2.0-84923036749