SEM and AFM imaging of solar cells defects
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F15%3APU113088" target="_blank" >RIV/00216305:26220/15:PU113088 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1117/12.2049046" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1117/12.2049046</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1117/12.2049046" target="_blank" >10.1117/12.2049046</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
SEM and AFM imaging of solar cells defects
Popis výsledku v původním jazyce
The paper deals with the successive localization and imaging of solar cell defects, going from macroscale to microscale. For the purpose of localization, the light emission from reversed bias samples is used. After rough macroscopic localization, microscopic localization by scanning probe microscopy combined with a photomultiplier (shadow mapping) is performed. The type of microscopic defects are discernable from their current-voltage plot or from noise measurements. Two specific defects, both of the avalanche type, with different voltage threshold, are presented in this paper. Current voltage plots and radiant flux versus voltage characteristics for two temperatures, topography, shadow map and corresponding SEM micrographs are shown for both samples.
Název v anglickém jazyce
SEM and AFM imaging of solar cells defects
Popis výsledku anglicky
The paper deals with the successive localization and imaging of solar cell defects, going from macroscale to microscale. For the purpose of localization, the light emission from reversed bias samples is used. After rough macroscopic localization, microscopic localization by scanning probe microscopy combined with a photomultiplier (shadow mapping) is performed. The type of microscopic defects are discernable from their current-voltage plot or from noise measurements. Two specific defects, both of the avalanche type, with different voltage threshold, are presented in this paper. Current voltage plots and radiant flux versus voltage characteristics for two temperatures, topography, shadow map and corresponding SEM micrographs are shown for both samples.
Klasifikace
Druh
J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science
CEP obor
—
OECD FORD obor
20201 - Electrical and electronic engineering
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Ostatní
Rok uplatnění
2015
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Proceedings of SPIE
ISSN
0277-786X
e-ISSN
—
Svazek periodika
9450
Číslo periodika v rámci svazku
9450
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
1-6
Kód UT WoS článku
000349404500056
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-84923008673