Screen Printed Metallization on p+ Emitters of n-Type Silicon Solar Cells
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F16%3APU121548" target="_blank" >RIV/00216305:26220/16:PU121548 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Screen Printed Metallization on p+ Emitters of n-Type Silicon Solar Cells
Popis výsledku v původním jazyce
In this study we designed and fabricated n-PERT (Passivated Emitter, Rear Totally Diffused) solar cells and we investigated the effect of different boron emitter profiles (emitter surface concentration and emitter junction depth) on the cell performance. The emitter was varying in the depth demitter and the peak surface carrier concentration NA, and so the resulting sheet resistance RSh was changing between 60 Ω/sq and 140 Ω/sq. The value of RSh of Back Surface Field (BSF) layer was 75 Ω/sq in all cases. We metalized boron emitters by a commercial firing- through AgAl paste or a pure Ag paste and we varied the metallization fraction to extract the recombination current density J0-met under the metal contact for each emitter/paste.
Název v anglickém jazyce
Screen Printed Metallization on p+ Emitters of n-Type Silicon Solar Cells
Popis výsledku anglicky
In this study we designed and fabricated n-PERT (Passivated Emitter, Rear Totally Diffused) solar cells and we investigated the effect of different boron emitter profiles (emitter surface concentration and emitter junction depth) on the cell performance. The emitter was varying in the depth demitter and the peak surface carrier concentration NA, and so the resulting sheet resistance RSh was changing between 60 Ω/sq and 140 Ω/sq. The value of RSh of Back Surface Field (BSF) layer was 75 Ω/sq in all cases. We metalized boron emitters by a commercial firing- through AgAl paste or a pure Ag paste and we varied the metallization fraction to extract the recombination current density J0-met under the metal contact for each emitter/paste.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Ostatní
Rok uplatnění
2016
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Imaps Flash Conference
ISBN
9788021454163
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
5
Strana od-do
1-5
Název nakladatele
Neuveden
Místo vydání
Neuveden
Místo konání akce
Brno
Datum konání akce
3. 11. 2016
Typ akce podle státní příslušnosti
EUR - Evropská akce
Kód UT WoS článku
—