Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Characteristics of gallium arsenide solar cells at high temperature

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F17%3APU123520" target="_blank" >RIV/00216305:26220/17:PU123520 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://www.utee.feec.vutbr.cz/eeict/2017/EEICT%202017-sborn%C3%ADk-komplet.pdf" target="_blank" >http://www.utee.feec.vutbr.cz/eeict/2017/EEICT%202017-sborn%C3%ADk-komplet.pdf</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Characteristics of gallium arsenide solar cells at high temperature

  • Popis výsledku v původním jazyce

    This article reviews a work on processing of gallium arsenide (GaAs) solar cells. The performance of cells before and after 300 °C thermal processing was correlated with topography identified by optical camera, atomic force microscope (AFM) and scanning electron microscope (SEM). Experiment indicates insignificant changes in topography of GaAs solar cells, but electrical characteristics show an excellent resistance of the samples to processing temperature.

  • Název v anglickém jazyce

    Characteristics of gallium arsenide solar cells at high temperature

  • Popis výsledku anglicky

    This article reviews a work on processing of gallium arsenide (GaAs) solar cells. The performance of cells before and after 300 °C thermal processing was correlated with topography identified by optical camera, atomic force microscope (AFM) and scanning electron microscope (SEM). Experiment indicates insignificant changes in topography of GaAs solar cells, but electrical characteristics show an excellent resistance of the samples to processing temperature.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20201 - Electrical and electronic engineering

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2017

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Proceedings of the 23rd Conference STUDENT EEICT 2017

  • ISBN

    978-80-214-5496-5

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    5

  • Strana od-do

    693-697

  • Název nakladatele

    Neuveden

  • Místo vydání

    Brno

  • Místo konání akce

    Brno

  • Datum konání akce

    27. 4. 2017

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    CST - Celostátní akce

  • Kód UT WoS článku