Analyzing the fractal feature of nickel thin films surfaces modified by low energy nitrogen ion

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F19%3APU131173" target="_blank" >RIV/00216305:26220/19:PU131173 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="https://onlinelibrary.wiley.com/doi/full/10.1002/vipr.201900703" target="_blank" >https://onlinelibrary.wiley.com/doi/full/10.1002/vipr.201900703</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1002/vipr.201900703" target="_blank" >10.1002/vipr.201900703</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Analyzing the fractal feature of nickel thin films surfaces modified by low energy nitrogen ion

Popis výsledku v původním jazyce

Fractal concepts are used to explore how different energies (10, 20 and 50 keV) and fluence of 5 × 1017 N+ cm−2 affect the morphology of nickel thin film. The nickel thin film with thickness of 100 nm is prepared by electron beam evaporation technique at room temperature on stainless steel (AISI 316) substrates. The nanoscale three-dimensional (3-D) surface micro-morphologies are investigated by atomic force microscopy (AFM). Interface width is used to describe the surface height fluctuations. The autocorrelation function with height-height correlation function give the quantitative data about the morphology of surface. The value of roughness exponent and fractal dimension is computed by height-height correlation function. Fractal measure is an important analysis which provides fundamental insights into the texture characteristics and a direct way of testing their functional role.

Název v anglickém jazyce

Analyzing the fractal feature of nickel thin films surfaces modified by low energy nitrogen ion

Popis výsledku anglicky

Fractal concepts are used to explore how different energies (10, 20 and 50 keV) and fluence of 5 × 1017 N+ cm−2 affect the morphology of nickel thin film. The nickel thin film with thickness of 100 nm is prepared by electron beam evaporation technique at room temperature on stainless steel (AISI 316) substrates. The nanoscale three-dimensional (3-D) surface micro-morphologies are investigated by atomic force microscopy (AFM). Interface width is used to describe the surface height fluctuations. The autocorrelation function with height-height correlation function give the quantitative data about the morphology of surface. The value of roughness exponent and fractal dimension is computed by height-height correlation function. Fractal measure is an important analysis which provides fundamental insights into the texture characteristics and a direct way of testing their functional role.

Druh

J_imp - Článek v periodiku v databázi Web of Science

CEP obor

—

OECD FORD obor

21001 - Nano-materials (production and properties)

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2019

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Vakuum in Forschung und Praxis

ISSN

0947-076X

e-ISSN

1522-2454

Svazek periodika

1

Číslo periodika v rámci svazku

30

Stát vydavatele periodika

DE - Spolková republika Německo

Počet stran výsledku

6

Strana od-do

30-35

Kód UT WoS článku

000459224300007

EID výsledku v databázi Scopus

2-s2.0-85061894067