An EMC Susceptibility Study of Integrated Basic Bandgap Voltage Reference Cores
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F22%3APU141574" target="_blank" >RIV/00216305:26220/22:PU141574 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="https://www.radioeng.cz/fulltexts/2022/22_03_0413_0421.pdf" target="_blank" >https://www.radioeng.cz/fulltexts/2022/22_03_0413_0421.pdf</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.13164/RE.2022.0413" target="_blank" >10.13164/RE.2022.0413</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
An EMC Susceptibility Study of Integrated Basic Bandgap Voltage Reference Cores
Popis výsledku v původním jazyce
This paper presents a comparative EMC susceptibility study of various integrated bandgap voltage reference cores. Conventional well-known bandgap references based on Kuijk, Brokaw and Tsividis concepts with reduced count of bipolar junction transistors in the core were analyzed. On top of the EMC susceptibility comparison, basic parameters like temperature drift, sensitivity to an operational amplifier input offset and line regulation are also discussed. The influence of a collector leakage current compensation at high temperatures is investigated as well.
Název v anglickém jazyce
An EMC Susceptibility Study of Integrated Basic Bandgap Voltage Reference Cores
Popis výsledku anglicky
This paper presents a comparative EMC susceptibility study of various integrated bandgap voltage reference cores. Conventional well-known bandgap references based on Kuijk, Brokaw and Tsividis concepts with reduced count of bipolar junction transistors in the core were analyzed. On top of the EMC susceptibility comparison, basic parameters like temperature drift, sensitivity to an operational amplifier input offset and line regulation are also discussed. The influence of a collector leakage current compensation at high temperatures is investigated as well.
Klasifikace
Druh
J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science
CEP obor
—
OECD FORD obor
20201 - Electrical and electronic engineering
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Ostatní
Rok uplatnění
2022
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Radioengineering
ISSN
1210-2512
e-ISSN
—
Svazek periodika
31
Číslo periodika v rámci svazku
3
Stát vydavatele periodika
CZ - Česká republika
Počet stran výsledku
9
Strana od-do
413-421
Kód UT WoS článku
000889518100019
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-85137630744