Optimalizace testu na úrovni RT pro nízký příkon

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26230%2F07%3APU70909" target="_blank" >RIV/00216305:26230/07:PU70909 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
RT Level Test Optimization for Low Power Consumption
Popis výsledku v původním jazyce
The paper deals with low power consumption test optimization for register transfer level (RTL) circuits. A model of circuit under test (CUT), based on the theory of sets and relations is defined. In the model, the power consumption is seen as a parameterdepending on circuit structure and input data used for the test. Optimization method to reduce power consumption during test application, is presented.<br>
Název v anglickém jazyce
RT Level Test Optimization for Low Power Consumption
Popis výsledku anglicky
The paper deals with low power consumption test optimization for register transfer level (RTL) circuits. A model of circuit under test (CUT), based on the theory of sets and relations is defined. In the model, the power consumption is seen as a parameterdepending on circuit structure and input data used for the test. Optimization method to reduce power consumption during test application, is presented.<br>

Projekt
<a href="/cs/project/GD102%2F05%2FH050" target="_blank" >GD102/05/H050: Integrovaný přístup k výchově studentů DSP v oblasti paralelních a distribuovaných systémů</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění
2007
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)