Evolution of Synthetic RTL Benchmark Circuits with Predefined Testability
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26230%2F08%3APU76736" target="_blank" >RIV/00216305:26230/08:PU76736 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Evolution of Synthetic RTL Benchmark Circuits with Predefined Testability
Popis výsledku v původním jazyce
This article presents a new real-world application of evolutionary computing in the area of digital-circuits testing. A method is described which enables to evolve large synthetic RTL benchmark circuits with a predefined structure and testability. Usingthe proposed method, a new collection of synthetic benchmark circuits was developed. These benchmark circuits will be useful in a validation process of novel algorithms and tools in the area of digital-circuits testing. Evolved benchmark circuits currently represent the most complex benchmark circuits with a known level of testability. Furthermore, these circuits are the largest that have ever been designed by means of evolutionary algorithms. This work also investigates suitable parameters of the evolutionary algorithm for this problem and explores the limits in the complexity of evolved circuits.
Název v anglickém jazyce
Evolution of Synthetic RTL Benchmark Circuits with Predefined Testability
Popis výsledku anglicky
This article presents a new real-world application of evolutionary computing in the area of digital-circuits testing. A method is described which enables to evolve large synthetic RTL benchmark circuits with a predefined structure and testability. Usingthe proposed method, a new collection of synthetic benchmark circuits was developed. These benchmark circuits will be useful in a validation process of novel algorithms and tools in the area of digital-circuits testing. Evolved benchmark circuits currently represent the most complex benchmark circuits with a known level of testability. Furthermore, these circuits are the largest that have ever been designed by means of evolutionary algorithms. This work also investigates suitable parameters of the evolutionary algorithm for this problem and explores the limits in the complexity of evolved circuits.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JC - Počítačový hardware a software
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2008
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
ACM TRANSACTIONS ON DESIGN AUTOMATION OF ELECTRONIC SYSTEMS
ISSN
1084-4309
e-ISSN
—
Svazek periodika
13
Číslo periodika v rámci svazku
3
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
21
Strana od-do
—
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—