Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Evaluation Platform For Testing Fault Tolerance: Testing Reliability of Smart Electronic Locks

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26230%2F20%3APU135818" target="_blank" >RIV/00216305:26230/20:PU135818 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="https://www.fit.vut.cz/research/publication/12080/" target="_blank" >https://www.fit.vut.cz/research/publication/12080/</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1109/LASCAS45839.2020.9068977" target="_blank" >10.1109/LASCAS45839.2020.9068977</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Evaluation Platform For Testing Fault Tolerance: Testing Reliability of Smart Electronic Locks

  • Popis výsledku v původním jazyce

    This research paper presents examination of the influences of faults on a control unit of smart electronic locks. A stepper motor is often used as an actuator of such smart locks and its motor controller is usually implemented in a processor. The aim of this paper is to examine the impact of faults occurring in the control processor. It should be noted that faults in such electronic systems can also be induced artificially, usually with ulterior motives. The processor can be implemented in an FPGA (Field Programmable Gate Array) in order to be able to emulate HW faults inside the processor. This allows us to use previously developed evaluation platform for fault tolerance testing. This platform allows us to monitor impact of faults both on electronic and mechanical parts of electro-mechanical system. In this paper, the evaluation of faults artificially injected in FPGA-based processor is proposed. Experiments with both single and multiple fault injections were held.

  • Název v anglickém jazyce

    Evaluation Platform For Testing Fault Tolerance: Testing Reliability of Smart Electronic Locks

  • Popis výsledku anglicky

    This research paper presents examination of the influences of faults on a control unit of smart electronic locks. A stepper motor is often used as an actuator of such smart locks and its motor controller is usually implemented in a processor. The aim of this paper is to examine the impact of faults occurring in the control processor. It should be noted that faults in such electronic systems can also be induced artificially, usually with ulterior motives. The processor can be implemented in an FPGA (Field Programmable Gate Array) in order to be able to emulate HW faults inside the processor. This allows us to use previously developed evaluation platform for fault tolerance testing. This platform allows us to monitor impact of faults both on electronic and mechanical parts of electro-mechanical system. In this paper, the evaluation of faults artificially injected in FPGA-based processor is proposed. Experiments with both single and multiple fault injections were held.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20206 - Computer hardware and architecture

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2020

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    2020 IEEE 11th Latin American Symposium on Circuits & Systems (LASCAS)

  • ISBN

    978-1-7281-3427-7

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    1-4

  • Název nakladatele

    IEEE Circuits and Systems Society

  • Místo vydání

    San José

  • Místo konání akce

    Holiday Inn Hotel, Escazu, San José

  • Datum konání akce

    25. 2. 2020

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku