Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Mechanical properties of a-SiC:H films: an influence of surface topography on nanoindentation measurements

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26310%2F16%3APU122523" target="_blank" >RIV/00216305:26310/16:PU122523 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Mechanical properties of a-SiC:H films: an influence of surface topography on nanoindentation measurements

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Hydrogenated amorphous silicon-carbon films were prepared on polished silicon wafers from a tetravinylsilane precursor via plasma-enhanced chemical vapor deposition. The grain structure was developed at the film surface using high powers (50-70 W), as observed by atomic force microscopy (AFM). Conventional and cyclic nanoindentation measurements revealed different mechanical responses for indentation into and outside of the selected isolated grain with a spherical cap geometry with a radius greater than that of the indenter (50 nm). The finite element method was employed to simulate the behavior of the grain under deformation by an indenter to correctly interpret the nanoindentation data. Scanning probe measurements using Modulus Mapping (dynamic mechanical analysis) and atomic force acoustic microscopy confirmed that the surface topography had a critical influence on the determined mechanical properties, which were significantly underestimated. Our experimental and simulation study demonstrates that

  • Název v anglickém jazyce

    Mechanical properties of a-SiC:H films: an influence of surface topography on nanoindentation measurements

  • Popis výsledku anglicky

    Hydrogenated amorphous silicon-carbon films were prepared on polished silicon wafers from a tetravinylsilane precursor via plasma-enhanced chemical vapor deposition. The grain structure was developed at the film surface using high powers (50-70 W), as observed by atomic force microscopy (AFM). Conventional and cyclic nanoindentation measurements revealed different mechanical responses for indentation into and outside of the selected isolated grain with a spherical cap geometry with a radius greater than that of the indenter (50 nm). The finite element method was employed to simulate the behavior of the grain under deformation by an indenter to correctly interpret the nanoindentation data. Scanning probe measurements using Modulus Mapping (dynamic mechanical analysis) and atomic force acoustic microscopy confirmed that the surface topography had a critical influence on the determined mechanical properties, which were significantly underestimated. Our experimental and simulation study demonstrates that

Klasifikace

  • Druh

    O - Ostatní výsledky

  • CEP obor

    CF - Fyzikální chemie a teoretická chemie

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/GA16-09161S" target="_blank" >GA16-09161S: Syntéza multifunkčních plazmových polymerů pro polymerní kompozity bez rozhraní</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2016

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů