Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Photoconductivity of CdTe Semiconductor Radiation Detectors

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26620%2F13%3APU106476" target="_blank" >RIV/00216305:26620/13:PU106476 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Photoconductivity of CdTe Semiconductor Radiation Detectors

  • Popis výsledku v původním jazyce

    This paper presents the results of experimental studies of transport and noise characteristics of CdTe deterctors. The current ? voltage (I-V) characteristics and noise spectral densities were measured at the room temperature in dark and illumination through the contact area. We found that in this sample are good ohmic contacts and then measured noise corresponds volume noise sources only. The dominant noise source is 1/f type. One sample met the criteria to assumed bz the Hooge model. The Hooge constant for this sample was found: 5.5x10^-2. This value is higher than 2x10^-3 proposed by the Hooge theory due to the contact noise sources. Nevertheless, this value is very close to the theoretical.

  • Název v anglickém jazyce

    Photoconductivity of CdTe Semiconductor Radiation Detectors

  • Popis výsledku anglicky

    This paper presents the results of experimental studies of transport and noise characteristics of CdTe deterctors. The current ? voltage (I-V) characteristics and noise spectral densities were measured at the room temperature in dark and illumination through the contact area. We found that in this sample are good ohmic contacts and then measured noise corresponds volume noise sources only. The dominant noise source is 1/f type. One sample met the criteria to assumed bz the Hooge model. The Hooge constant for this sample was found: 5.5x10^-2. This value is higher than 2x10^-3 proposed by the Hooge theory due to the contact noise sources. Nevertheless, this value is very close to the theoretical.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2013

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    International Journal of Computer Science and Electronics Engineering

  • ISSN

    2320-401X

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    1

  • Číslo periodika v rámci svazku

    5

  • Stát vydavatele periodika

    IN - Indická republika

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    31-34

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus