Photoconductivity of CdTe Semiconductor Radiation Detectors
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26620%2F13%3APU106476" target="_blank" >RIV/00216305:26620/13:PU106476 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Photoconductivity of CdTe Semiconductor Radiation Detectors
Popis výsledku v původním jazyce
This paper presents the results of experimental studies of transport and noise characteristics of CdTe deterctors. The current ? voltage (I-V) characteristics and noise spectral densities were measured at the room temperature in dark and illumination through the contact area. We found that in this sample are good ohmic contacts and then measured noise corresponds volume noise sources only. The dominant noise source is 1/f type. One sample met the criteria to assumed bz the Hooge model. The Hooge constant for this sample was found: 5.5x10^-2. This value is higher than 2x10^-3 proposed by the Hooge theory due to the contact noise sources. Nevertheless, this value is very close to the theoretical.
Název v anglickém jazyce
Photoconductivity of CdTe Semiconductor Radiation Detectors
Popis výsledku anglicky
This paper presents the results of experimental studies of transport and noise characteristics of CdTe deterctors. The current ? voltage (I-V) characteristics and noise spectral densities were measured at the room temperature in dark and illumination through the contact area. We found that in this sample are good ohmic contacts and then measured noise corresponds volume noise sources only. The dominant noise source is 1/f type. One sample met the criteria to assumed bz the Hooge model. The Hooge constant for this sample was found: 5.5x10^-2. This value is higher than 2x10^-3 proposed by the Hooge theory due to the contact noise sources. Nevertheless, this value is very close to the theoretical.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Ostatní
Rok uplatnění
2013
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
International Journal of Computer Science and Electronics Engineering
ISSN
2320-401X
e-ISSN
—
Svazek periodika
1
Číslo periodika v rámci svazku
5
Stát vydavatele periodika
IN - Indická republika
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
31-34
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—