Investigation of Defects at Cu(In,Ga)Se2 Flexible Solar Cells on Macroscopic and Microscopic Level and their Influence on Solar Cell Performance

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26620%2F17%3APU121399" target="_blank" >RIV/00216305:26620/17:PU121399 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://www.scientific.net/SSP.258.469" target="_blank" >http://www.scientific.net/SSP.258.469</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/SSP.258" target="_blank" >10.4028/www.scientific.net/SSP.258</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Investigation of Defects at Cu(In,Ga)Se2 Flexible Solar Cells on Macroscopic and Microscopic Level and their Influence on Solar Cell Performance

Popis výsledku v původním jazyce

This paper investigates imperfection issues of Cu(In,Ga)Se2 thin-film solar cell structures and diagnostic methods of the CIGS solar cells. Electroluminescence and thermography are used to localize defect in macroscopic scale. Microstructures found in defective solar cell area are shown using micrographs. Focused ion beam was used to demonstrate that these structures interfere each solar cell layers. It is shown that micro sized defects (voids) behave as extra-stressed conductive channels that can degrade solar cells in module.

Název v anglickém jazyce

Investigation of Defects at Cu(In,Ga)Se2 Flexible Solar Cells on Macroscopic and Microscopic Level and their Influence on Solar Cell Performance

Popis výsledku anglicky

This paper investigates imperfection issues of Cu(In,Ga)Se2 thin-film solar cell structures and diagnostic methods of the CIGS solar cells. Electroluminescence and thermography are used to localize defect in macroscopic scale. Microstructures found in defective solar cell area are shown using micrographs. Focused ion beam was used to demonstrate that these structures interfere each solar cell layers. It is shown that micro sized defects (voids) behave as extra-stressed conductive channels that can degrade solar cells in module.

Druh

J_SC - Článek v periodiku v databázi SCOPUS

CEP obor

—

OECD FORD obor

20201 - Electrical and electronic engineering

Projekt

<a href="/cs/project/LQ1601" target="_blank" >LQ1601: CEITEC 2020</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2017

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Solid State Phenomena

ISSN

1662-9779

e-ISSN

—

Svazek periodika

258

Číslo periodika v rámci svazku

1

Stát vydavatele periodika

CH - Švýcarská konfederace

Počet stran výsledku

643

Strana od-do

469-473

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

2-s2.0-85009813071