In situ nano indentation module for AFM in SEM LiteScope ™

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F04525671%3A_____%2F23%3AN0000012" target="_blank" >RIV/04525671:_____/23:N0000012 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

In situ nano indentation module for AFM in SEM LiteScope ™

Popis výsledku v původním jazyce

An application note is a document detailing the use of a technique or application of an instrument. In this case, the application note describes an in-situ nanoindentation module for the LiteScope microscope that can be used in conjunction with the electron microscope. This module allows quantitative analysis of the mechanical properties of materials by nanoindentation testing. It is designed to be integrated into a scanning electron microscope (SEM) and enables high-resolution micromechanical experiments. Advantages of this combined solution include accurate localization of nanostructures, the possibility of combination with other SEM techniques (EBSD, EDX), fast nanoindentation measurements, accurate AFM probe positioning by SEM, and easy repeatability of localization of the same region. The application note also provides examples of TRIP steel and steel material analysis using a combination of EBSD, SEM, AFM and nanoindentation techniques.

Název v anglickém jazyce

In situ nano indentation module for AFM in SEM LiteScope ™

Popis výsledku anglicky

An application note is a document detailing the use of a technique or application of an instrument. In this case, the application note describes an in-situ nanoindentation module for the LiteScope microscope that can be used in conjunction with the electron microscope. This module allows quantitative analysis of the mechanical properties of materials by nanoindentation testing. It is designed to be integrated into a scanning electron microscope (SEM) and enables high-resolution micromechanical experiments. Advantages of this combined solution include accurate localization of nanostructures, the possibility of combination with other SEM techniques (EBSD, EDX), fast nanoindentation measurements, accurate AFM probe positioning by SEM, and easy repeatability of localization of the same region. The application note also provides examples of TRIP steel and steel material analysis using a combination of EBSD, SEM, AFM and nanoindentation techniques.

Druh

O - Ostatní výsledky

CEP obor

—

OECD FORD obor

21000 - Nano-technology

Projekt

<a href="/cs/project/FV40238" target="_blank" >FV40238: Pokročilé mikroskopické techniky</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2023

Kód důvěrnosti údajů

C - Předmět řešení projektu podléhá obchodnímu tajemství (§ 504 Občanského zákoníku), ale název projektu, cíle projektu a u ukončeného nebo zastaveného projektu zhodnocení výsledku řešení projektu (údaje P03, P04, P15, P19, P29, PN8) dodané do CEP, jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné.