AFM-in-SEM LiteScope™

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F04525671%3A_____%2F23%3AN0000013" target="_blank" >RIV/04525671:_____/23:N0000013 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

AFM-in-SEM LiteScope™

Popis výsledku v původním jazyce

A product data sheet is a document that contains a detailed description of a specific device and its features. This product data sheet describes the AFM-in-SEM LiteScope™, which is a unique atomic force microscope (AFM) integrated into a scanning electron microscope (SEM). The new correlation probe and electron microscopy (CPEM) technology enables real-time correlation of AFM and SEM data. The coupling of AFM and SEM enables complex sample analysis that is difficult when using separate devices. The main advantages include comprehensive and correlation analysis, in-situ sample characterization and accurate localization of the region of interest. The development of the product list has been significantly influenced by the contribution of the project to develop an AFM microscope with 'fast imaging' and adaptive scanning capability, together with software modules for advanced image processing in correlation microscopy.

Název v anglickém jazyce

AFM-in-SEM LiteScope™

Popis výsledku anglicky

A product data sheet is a document that contains a detailed description of a specific device and its features. This product data sheet describes the AFM-in-SEM LiteScope™, which is a unique atomic force microscope (AFM) integrated into a scanning electron microscope (SEM). The new correlation probe and electron microscopy (CPEM) technology enables real-time correlation of AFM and SEM data. The coupling of AFM and SEM enables complex sample analysis that is difficult when using separate devices. The main advantages include comprehensive and correlation analysis, in-situ sample characterization and accurate localization of the region of interest. The development of the product list has been significantly influenced by the contribution of the project to develop an AFM microscope with 'fast imaging' and adaptive scanning capability, together with software modules for advanced image processing in correlation microscopy.

Druh

O - Ostatní výsledky

CEP obor

—

OECD FORD obor

21000 - Nano-technology

Projekt

<a href="/cs/project/FV40238" target="_blank" >FV40238: Pokročilé mikroskopické techniky</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2023

Kód důvěrnosti údajů

C - Předmět řešení projektu podléhá obchodnímu tajemství (§ 504 Občanského zákoníku), ale název projektu, cíle projektu a u ukončeného nebo zastaveného projektu zhodnocení výsledku řešení projektu (údaje P03, P04, P15, P19, P29, PN8) dodané do CEP, jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné.