Optimalizace monochromátoru založeného na ohnutém monokrystalu Si(220) pro měření zbytkových deformací/napětí ? 2. část
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F26722445%3A_____%2F05%3A%230000007" target="_blank" >RIV/26722445:_____/05:#0000007 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Optimalizace monochromátoru založeného na ohnutém monokrystalu Si(220) pro měření zbytkových deformací/napětí ? 2. část
Popis výsledku v původním jazyce
Optimalizované uspořádání difraktometru pro měření zbytkových deformací pomocí zakřiveného krystalického monochromátorů poskytuje dobrou luminositu a vysoké rozlišení Dd/d v blízkosti obvykle používaného u úhlu rozptylu 2qs » ?90°. Protože se používají difraktometry různého uspořádání, které mohou být instalovány při konstantních anebo různých úhlech výletu, je málo experimentálních údajů poskytujících pomoc při výběru parametrů pro optimální výkon. Jako doplněk k našim dřívějším výzkumům s použitím zakřiveného Si(311) monochromatoru nasazeného v různých rozptylových geometriích jsou zde uváděny výsledky získané pro kvalitu monochromátoru založeného na ohnutém monokrystalu Si(220) jako dalšího kandidáta, který může být použit jako monochoramátor pro difraktometry zbytkových deformací.
Název v anglickém jazyce
Optimization of bent perfect Si(220)-crystal monochromator for residual strain/stress instrument-Part II
Popis výsledku anglicky
Optimized diffractometer arrangements for residual strain measurements employing curved crystal monochromators provide good luminosity and a high Dd/d resolution in the vicinity of usually used scattering angle 2qs » ?90°. Due to a variety of designs ofthe diffractometers which could be installed at a constant or different take-off angles, except a few attempts, there is a lack of experimental evidence providing a help in a choice of parameters for an optimum performance. In addition to our earlier investigations with curved Si(311) monochromator employed in different diffraction geometries, the present paper presents the monochromator properties of cylindrically bent perfect Si(220) crystals as another candidate to be used as monochromator in residual strain diffractometers.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BG - Jaderná, atomová a molekulová fyzika, urychlovače
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2005
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Physica B
ISSN
0921-4526
e-ISSN
—
Svazek periodika
368
Číslo periodika v rámci svazku
1-4
Stát vydavatele periodika
NL - Nizozemsko
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
70-75
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—