Optimalizace monochromátoru na bázi ohnutého dokonalého krystalu Si(220) pro zařízení ke studiu zbytkových napětí - Část II

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61389005%3A_____%2F05%3A00023578" target="_blank" >RIV/61389005:_____/05:00023578 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/61389005:_____/05:00030678 RIV/26722445:_____/06:#0000068

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Optimization of bent perfect Si(220)-crystal monochromator for residual strain/stress instrument - Part II

Popis výsledku v původním jazyce

Optimized diffractometer arrangements for residual strain measurements employing curved crystal monochromators provide good luminosity and a high Delta d/d resolution in the vicinity of usually used scattering angle 2 theta(S) 90 degrees. Due to a variety of designs of the diffractometers which could be installed at a constant or different take-off angles, except a few attempts, there is a lack of experimental evidence providing a help in a choice of parameters for an optimum performance. In addition toour earlier investigations with curved Si(311) monochromator employed in different diffraction geometries (see paper I [M.K. Moon et al., Physica B, submitted [1]]), the present paper presents the monochromator properties of cylindrically bent perfect Si(220) crystals as another candidate to be used as monochromator in residual strain diffractometers.

Název v anglickém jazyce

Optimization of bent perfect Si(220)-crystal monochromator for residual strain/stress instrument - Part II

Popis výsledku anglicky

Optimized diffractometer arrangements for residual strain measurements employing curved crystal monochromators provide good luminosity and a high Delta d/d resolution in the vicinity of usually used scattering angle 2 theta(S) 90 degrees. Due to a variety of designs of the diffractometers which could be installed at a constant or different take-off angles, except a few attempts, there is a lack of experimental evidence providing a help in a choice of parameters for an optimum performance. In addition toour earlier investigations with curved Si(311) monochromator employed in different diffraction geometries (see paper I [M.K. Moon et al., Physica B, submitted [1]]), the present paper presents the monochromator properties of cylindrically bent perfect Si(220) crystals as another candidate to be used as monochromator in residual strain diffractometers.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA202%2F03%2F0891" target="_blank" >GA202/03/0891: Výzkumné centrum s termálními neutrony</a><br>

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2005

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Physica. B

ISSN

0921-4526

e-ISSN

—

Svazek periodika

368

Číslo periodika v rámci svazku

1 2 3 4

Stát vydavatele periodika

NL - Nizozemsko

Počet stran výsledku

5

Strana od-do

70-75

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—