Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Využití elektronové mikroskopie v běžné strojírenské praxi

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F46709002%3A_____%2F18%3AN0000019" target="_blank" >RIV/46709002:_____/18:N0000019 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    čeština

  • Název v původním jazyce

    Využití elektronové mikroskopie v běžné strojírenské praxi

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Rastrovací elektronová mikroskopie se v posledních letech stává nedílnou součástí výrobních a kontrolních procesů. Její funkcí je především odhalování příčin vzniku vad, kontrola správnosti provedených technologických postupů či studium fázových přeměn materiálu sloužící pro správné nastavení konkrétních procesních parametrů. Elektronové mikroskopy jsou vybaveny škálou detektorů, které poskytují komplexní informaci o studovaném materiálu. V rámci tohoto článku bylo popsáno využití detektorů sekundárních elektronů (SE), zpětně odražených elektronů (BSE a AsB), detektoru difrakce zpětně odražených elektronů (EBSD) a detektoru pro energiově – disperzní mikroanalýzu (EDX) při řešení výrobní problematiky.

  • Název v anglickém jazyce

    The usage of scanning electron microscopy in industry

  • Popis výsledku anglicky

    The scanning electron microscopy has become an integral part of production and control processes in recent years. Its main function is detection of the causes of the defects, then to check the performed technological procedures or to study of phase transformation necessary for correct setting of the specific process parameters. The electron microscopes are equipped with a range of detectors that provide complex information about studied material. In this paper, there was described the usage of detectors of secondary electrons (SE), backscattered electrons (BSE and AsB), EBSD detector and detector of energy – dispersive microanalysis (EDX) for the solution of production issue.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>ost</sub> - Ostatní články v recenzovaných periodicích

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20501 - Materials engineering

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/LO1213" target="_blank" >LO1213: Excelentní Strojírenský Výzkum</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2018

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    JMO - Jemná mechanika a optika

  • ISSN

    0447-6441

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

  • Číslo periodika v rámci svazku

    4/2018

  • Stát vydavatele periodika

    CZ - Česká republika

  • Počet stran výsledku

    3

  • Strana od-do

    126-128

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus