Diagnostika SoC obvodů s využitím RESPIN architektury

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F46747885%3A24220%2F04%3A00000119" target="_blank" >RIV/46747885:24220/04:00000119 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Diagnostika SoC obvodů s využitím RESPIN architektury

Popis výsledku v původním jazyce

Metoda testováni SoC obvodů je založena na vznikající normě IEEE P1500 a umožní testovat jádra v obvodech komprimovanými testovacími vektory s použitím RESPIN architektury.Prototyp RESPIN architektury a řízeni testování byl zrealizován na obvodu FPSLIC AT94K od firmy Atmel.

Název v anglickém jazyce

System-on-a-Chip Diagnostics Using RESPIN Architecture

Popis výsledku anglicky

The test method is based on the proposed IEEE P1500 standard and allows testing of cores in the system-on-a-chip using RESPIN architecture by compressed test patterns.The prototype of RESPIN architecture and test control was realized on the circuit FPSLIC AT94K from Atmel.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA102%2F04%2F2137" target="_blank" >GA102/04/2137: Návrh vysoce spolehlivých řídících systémů pomocí dynamicky rekonfigurovatelných obvodů FPGA</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2004

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Seminář PAD

ISBN

80-969202-0-0

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

5

Strana od-do

66-71

Název nakladatele

Neuveden

Místo vydání

Moravany nad Váhom, Slovak Republic

Místo konání akce

Moravany nad Váhom, Slovak Republic

Datum konání akce

1. 1. 2004

Typ akce podle státní příslušnosti

EUR - Evropská akce

Kód UT WoS článku

—