Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

On reliability enhancement using adaptive core voltage scaling and variations on nanoscale FPGAs

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F46747885%3A24220%2F14%3A%230003129" target="_blank" >RIV/46747885:24220/14:#0003129 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://ieeexplore.ieee.org/xpl/articleDetails.jsp?tp=&arnumber=6841917&queryText%3DOn+reliability+enhancement+using+adaptive+core+voltage+scaling+and+variations+on+nanoscale+FPGAs" target="_blank" >http://ieeexplore.ieee.org/xpl/articleDetails.jsp?tp=&arnumber=6841917&queryText%3DOn+reliability+enhancement+using+adaptive+core+voltage+scaling+and+variations+on+nanoscale+FPGAs</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1109/LATW.2014.6841917" target="_blank" >10.1109/LATW.2014.6841917</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    On reliability enhancement using adaptive core voltage scaling and variations on nanoscale FPGAs

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Rapidly growing portfolio of new technologies in design and manufacturing of advanced integrated circuits allow higher integration of complex structures in ultra-high nano-scale densities. However, the real new devices are sensitive subjects to unacceptable effects of changes of the internal nanostructures. Changes in parameters due to process variations or device aging along the working or its life-time can result in significant in large timing variations or critical BTI-inducted delays and may affectthe final design quality and dependability, may result in delay faults, up to the device or equipment malfunction or failure. Also power supply voltage or temperature variations do typically result in significant changes of timing parameters. The presented and tested circuit, method and approach allows extremely simple control of the core voltage during critical operations or during the device lifetime. This paper include also key results of measurement of selected low-power programmable

  • Název v anglickém jazyce

    On reliability enhancement using adaptive core voltage scaling and variations on nanoscale FPGAs

  • Popis výsledku anglicky

    Rapidly growing portfolio of new technologies in design and manufacturing of advanced integrated circuits allow higher integration of complex structures in ultra-high nano-scale densities. However, the real new devices are sensitive subjects to unacceptable effects of changes of the internal nanostructures. Changes in parameters due to process variations or device aging along the working or its life-time can result in significant in large timing variations or critical BTI-inducted delays and may affectthe final design quality and dependability, may result in delay faults, up to the device or equipment malfunction or failure. Also power supply voltage or temperature variations do typically result in significant changes of timing parameters. The presented and tested circuit, method and approach allows extremely simple control of the core voltage during critical operations or during the device lifetime. This paper include also key results of measurement of selected low-power programmable

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JC - Počítačový hardware a software

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/LD13019" target="_blank" >LD13019: SPONA - Zvýšení spolehlivosti nanoscale obvodů</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2014

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    15th IEEE Latin-American Test Workshop

  • ISBN

    978-1-4799-4711-9

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

  • Název nakladatele

    IEEE Computer Society

  • Místo vydání

    Brazil

  • Místo konání akce

    Fortaleza

  • Datum konání akce

    1. 1. 2014

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku