Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Advanced measurements and reliability assessments in modern nanoscale FPGAs

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F46747885%3A24220%2F15%3A%230003450" target="_blank" >RIV/46747885:24220/15:#0003450 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://iktdk.dcc.ttu.ee/data/iktdk_conf_call_2014.pdf" target="_blank" >http://iktdk.dcc.ttu.ee/data/iktdk_conf_call_2014.pdf</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Advanced measurements and reliability assessments in modern nanoscale FPGAs

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Rapidly growing portfolio of new technologies in design and manufacturing of advanced integrated circuits allow higher integration of complex structures in ultra-high nano-scale densities. The speed of development and implementation of innovative technologies is amazing. FPGA (Field Programmable Gate Array) devices allow designing logic circuits directly in software. FPGAs consist of sets of high number of after-manufacturing custom configurable programmable circuits and memory block elements and units.In addition, new FPGA families are introduced very soon or just together with the new technologies used in ASIC (Application Specific Integrated Circuits). Today?s technologies get closer and closer to the physical limits and the nature of physics. It also is one of the main reasons why the new devices are sensitive to negative effects of various changes of the internal nanostructures and parameters. Voltage scaling does not keep pace with physical scaling and poses serious reliability

  • Název v anglickém jazyce

    Advanced measurements and reliability assessments in modern nanoscale FPGAs

  • Popis výsledku anglicky

    Rapidly growing portfolio of new technologies in design and manufacturing of advanced integrated circuits allow higher integration of complex structures in ultra-high nano-scale densities. The speed of development and implementation of innovative technologies is amazing. FPGA (Field Programmable Gate Array) devices allow designing logic circuits directly in software. FPGAs consist of sets of high number of after-manufacturing custom configurable programmable circuits and memory block elements and units.In addition, new FPGA families are introduced very soon or just together with the new technologies used in ASIC (Application Specific Integrated Circuits). Today?s technologies get closer and closer to the physical limits and the nature of physics. It also is one of the main reasons why the new devices are sensitive to negative effects of various changes of the internal nanostructures and parameters. Voltage scaling does not keep pace with physical scaling and poses serious reliability

Klasifikace

  • Druh

    O - Ostatní výsledky

  • CEP obor

    JC - Počítačový hardware a software

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/LD13019" target="_blank" >LD13019: SPONA - Zvýšení spolehlivosti nanoscale obvodů</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2015

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů