Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Sequential Test Decompressors with Fast Tester Bits Wide-Spreading

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F46747885%3A24220%2F17%3A00004250" target="_blank" >RIV/46747885:24220/17:00004250 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://www.worldscientific.com/doi/pdf/10.1142/S0218126617400011" target="_blank" >http://www.worldscientific.com/doi/pdf/10.1142/S0218126617400011</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1142/S0218126617400011" target="_blank" >10.1142/S0218126617400011</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Sequential Test Decompressors with Fast Tester Bits Wide-Spreading

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Usually, test pattern decompressors with dynamic reseeding are reset before starting a new test pattern decoding. The first few scan chain slices are then filled with test vectors that have lower decoding ability as the number of free variables is limited by the test access mechanism bandwidth. We have found that even within this limitation, it is possible to improve the decodability by creating fast and wide-spreading as many as possible independent linear combinations of the tester bits and using them for the scan chain loading. We evaluated features influencing the decompression quality and the hardware overhead for different decompressor principles. According to the evaluation results, we proposed a decompressor combining a XOR network and a linear feedback shift register (LFSR)-like automaton; we place the XOR network on the LFSR inputs. We demonstrate that due to this arrangement, the combined decompressor can be used without any phase shifter or state skipping ability of the LFSR. We have experimentally verified that adopting the proposed decompressor structure improves test coverage, saves the hardware resources and shortens the test application time.

  • Název v anglickém jazyce

    Sequential Test Decompressors with Fast Tester Bits Wide-Spreading

  • Popis výsledku anglicky

    Usually, test pattern decompressors with dynamic reseeding are reset before starting a new test pattern decoding. The first few scan chain slices are then filled with test vectors that have lower decoding ability as the number of free variables is limited by the test access mechanism bandwidth. We have found that even within this limitation, it is possible to improve the decodability by creating fast and wide-spreading as many as possible independent linear combinations of the tester bits and using them for the scan chain loading. We evaluated features influencing the decompression quality and the hardware overhead for different decompressor principles. According to the evaluation results, we proposed a decompressor combining a XOR network and a linear feedback shift register (LFSR)-like automaton; we place the XOR network on the LFSR inputs. We demonstrate that due to this arrangement, the combined decompressor can be used without any phase shifter or state skipping ability of the LFSR. We have experimentally verified that adopting the proposed decompressor structure improves test coverage, saves the hardware resources and shortens the test application time.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20206 - Computer hardware and architecture

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2017

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    JOURNAL OF CIRCUITS SYSTEMS AND COMPUTERS

  • ISSN

    0218-1266

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    26

  • Číslo periodika v rámci svazku

    8

  • Stát vydavatele periodika

    SG - Singapurská republika

  • Počet stran výsledku

    16

  • Strana od-do

  • Kód UT WoS článku

    000399226200002

  • EID výsledku v databázi Scopus

    2-s2.0-85011536753