Random-Pattern Coverage Enhancement for BIST

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F46747885%3A24220%2F99%3A00000048" target="_blank" >RIV/46747885:24220/99:00000048 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Random-Pattern Coverage Enhancement for BIST

Popis výsledku v původním jazyce

The paper presents a design method for Built-In Self Test (BIST) that uses a cellular automaton (CA) for test pattern generation. Similarly to the test pattern generators with linear feedback shift registers (LFSR) the CA can generate pseudorandom test patterns. The patterns correspond to code words or to linear combination of different code words of codes with non primitive irreducible polynomials and with higher minimal code distance of its dual code. The CA is formed by T flip-flops and does not contain any XOR in the feedback. We proposed a new scheme of BIST where the CA is formed by a modified scan chain. A number of experiments were done with ISCAS 85 and 89 benchmark circuits. The achieved fault coverage is better than that obtained with the help of patterns generated by LFSRs.

Název v anglickém jazyce

Random-Pattern Coverage Enhancement for BIST

Popis výsledku anglicky

The paper presents a design method for Built-In Self Test (BIST) that uses a cellular automaton (CA) for test pattern generation. Similarly to the test pattern generators with linear feedback shift registers (LFSR) the CA can generate pseudorandom test patterns. The patterns correspond to code words or to linear combination of different code words of codes with non primitive irreducible polynomials and with higher minimal code distance of its dual code. The CA is formed by T flip-flops and does not contain any XOR in the feedback. We proposed a new scheme of BIST where the CA is formed by a modified scan chain. A number of experiments were done with ISCAS 85 and 89 benchmark circuits. The achieved fault coverage is better than that obtained with the help of patterns generated by LFSRs.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JC - Počítačový hardware a software

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

1999

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceedings of IEEE European Test Workshop

ISBN

—

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

2

Strana od-do

—

Název nakladatele

IEEE

Místo vydání

Německo

Místo konání akce

—

Datum konání akce

—

Typ akce podle státní příslušnosti

—

Kód UT WoS článku

—