Weighted Random Patterns for BIST Generated in Cellular Automata

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F46747885%3A24220%2F99%3A00000046" target="_blank" >RIV/46747885:24220/99:00000046 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Weighted Random Patterns for BIST Generated in Cellular Automata

Popis výsledku v původním jazyce

The paper presents a design method of cellular automaton. The proposed CA can generate weighted random patterns which can be used instead of linear feedback shift register (LFSR) sequences, the fault coverage is higher. We compared the quality of the generated test patterns with the quality of the patterns generated in an LFSR and with the quality of modified test patterns with several different global test pattern weights. The proposed CA can be advantageously used in BIST.

Název v anglickém jazyce

Weighted Random Patterns for BIST Generated in Cellular Automata

Popis výsledku anglicky

The paper presents a design method of cellular automaton. The proposed CA can generate weighted random patterns which can be used instead of linear feedback shift register (LFSR) sequences, the fault coverage is higher. We compared the quality of the generated test patterns with the quality of the patterns generated in an LFSR and with the quality of modified test patterns with several different global test pattern weights. The proposed CA can be advantageously used in BIST.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JC - Počítačový hardware a software

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

1999

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceedings of 5.th International On-Line Testing Workshop

ISBN

—

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

5

Strana od-do

—

Název nakladatele

IEEE

Místo vydání

Řecko

Místo konání akce

—

Datum konání akce

—

Typ akce podle státní příslušnosti

—

Kód UT WoS článku

—