Měření vzdáleností a posuvů pomocí spektrální interferometrie zahrnující efekt transparentního tenkého filmu

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F47813059%3A19240%2F04%3A%230002008" target="_blank" >RIV/47813059:19240/04:#0002008 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Spectral interferometry including the effect of transparent thin films to measure distances and displacements

Popis výsledku v původním jazyce

A spectral-domain interferometric technique is applied for measuring mirror distances and displacements in a dispersive Michelson interferometer when the effect of transparent thin films coated onto the interferometer beam splitter and compensator is known. We employ a low-resolution spectrometer in two experiments with different amounts of dispersion in a Michelson interferometer that includes fused-silica optical sample. Knowing the thickness of the optical sample and the nonlinear phase function of the thin films, the positions of the interferometer mirror are determined precisely by a least-squares fitting of the theoretical spectral interferograms to the recorded ones. We compare the results of the processing that include and do not include the effect of transparent thin films.

Název v anglickém jazyce

Spectral interferometry including the effect of transparent thin films to measure distances and displacements

Popis výsledku anglicky

A spectral-domain interferometric technique is applied for measuring mirror distances and displacements in a dispersive Michelson interferometer when the effect of transparent thin films coated onto the interferometer beam splitter and compensator is known. We employ a low-resolution spectrometer in two experiments with different amounts of dispersion in a Michelson interferometer that includes fused-silica optical sample. Knowing the thickness of the optical sample and the nonlinear phase function of the thin films, the positions of the interferometer mirror are determined precisely by a least-squares fitting of the theoretical spectral interferograms to the recorded ones. We compare the results of the processing that include and do not include the effect of transparent thin films.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BH - Optika, masery a lasery

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Rok uplatnění

2004

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

ACTA PHYSICA SLOVACA

ISSN

0323-0465

e-ISSN

—

Svazek periodika

54

Číslo periodika v rámci svazku

3

Stát vydavatele periodika

SK - Slovenská republika

Počet stran výsledku

8

Strana od-do

—

Kód UT WoS článku

000222041700002

EID výsledku v databázi Scopus

—