Měřící vanička a oplachová metanolová kaskáda pro realizaci chemické pasivace povrchu křemíkových desek na mapování objemové doby života minoritních nosičů proudu

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49610040%3A_____%2F13%3A%230000019" target="_blank" >RIV/49610040:_____/13:#0000019 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Měřící vanička a oplachová metanolová kaskáda pro realizaci chemické pasivace povrchu křemíkových desek na mapování objemové doby života minoritních nosičů proudu

Popis výsledku v původním jazyce

V rámci VaV projektu byla navržena nová metodika chemické pasivace povrchu křemíku v roztoku chinhydronu v metanolu, která je slučitelnější pro průběžné monitorování elektronických vlastností Si desek v rámci procesu výroby křemíkových solárních článků.Pro jednodušší a bezpečnější manipulaci s Si deskami (před i po samotném měření) byla nadesignována a vyrobena speciální plastová měřící vanička umožňující průběžné plnění a výměnu pasivačního roztoku. Po samotném měření doby života minoritních nosičů technikou MW PCD nebo QSSPC je k finálnímu vyčištění Si desek od pasivačního roztoku použita metanolová oplachová kaskáda designovaná pro čtyř u pěti-palcové Si desky.

Název v anglickém jazyce

Measuring tank and washing methanol casdade for realization of chemical passivation of silicon wafer surfaces for the mapping the minority carrier lifetime

Popis výsledku anglicky

Within the R&D project the new technique for the chemical passivation of silicon surfaces in the solution of quinhydron in methanol was developt. This method is used for the measurement (or mapping) the bulk minority carrier lifetime in silicon wafers during the production sequence of silicon solar cells. For easier and more safe manipulation with Si wafers special plastic measuring tank was designed and produced which enables continuous filling and exchange of passivation solution. After minority carrier lifetime measurement by MW PCD or QSSPC, special cascade methanol bath is used for the final wafer cleaning from passivating solution which was also designed and constructed within this project for four and five inch wafer sizes.

Druh

G_funk - Funkční vzorek

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/KAN100500652" target="_blank" >KAN100500652: Heterogenní organické a hybridní nanokompozitní materiály pro solární články</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2013

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Interní identifikační kód produktu

CHM007

Číselná identifikace

—

Technické parametry

Inovovaná pasivační technika disponuje vyšší opakovatelností výsledků měření doby života minoritních nosičů a zejména možností navrácení diagnostikovaných Si desek zpět do výrobního procesu (žádná kontaminace ani jiný negativní vliv na kvalitu zpracovávaných Si substrátů). Design pasivační vaničky i oplachové kaskády byl navržen a následně vyroben a testován Martinem Macháčkem a Jiřím Šenkýřem. Odpovědným řešitelem projektu na pracovišti Solartec, Televizní 2618, 756 61 Rožnov pod Radhoštěm byl Aleš Poruba, tel. 575750052, e-mail ales.poruba@solartec.cz

Ekonomické parametry

Zavedení inovované metodiky umožňilo dobře reprodukovatelné měření doby života minoritních nosičů s možností navrácení měřené Si desky do procesu výroby a technika využívající pasivační vaničky (a oplachové metanolové kaskády) místo speciálních drahých plastových sáčků vedla ke zlevnění a dále k markantnímu zvýšení výtěžnosti měřícího procesu zejména u velmi tenkých Si desek.

Kategorie aplik. výsledku dle nákladů

—

IČO vlastníka výsledku

49610040

Název vlastníka

Solartec s.r.o.

Stát vlastníka

CZ - Česká republika

Druh možnosti využití

N - Využití výsledku jiným subjektem je možné bez nabytí licence (výsledek není licencován)

Požadavek na licenční poplatek

—

Adresa www stránky s výsledkem

—