Komplexní hodnocení vlastností systémů tenká vrstva - substrát s přiblížením pro praktické využití

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23210%2F99%3A00043728" target="_blank" >RIV/49777513:23210/99:00043728 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Komplexní hodnocení vlastností systémů tenká vrstva - substrát s přiblížením pro praktické využití
Popis výsledku v původním jazyce
Příspěvek se zabývá řízenými deposicemi tenkých vrstev deponovanými reaktivním obloukovým odpařováním ve vakuu a komplexním hodnocením vlastností a chování systémů tenká vrstva - substrát s přihlédnutím na směr praktického uplatnění.
Název v anglickém jazyce
Complex analysis of properties of systems thin film - substrate with approximation for practical use
Popis výsledku anglicky
The paper devoted with control deposition of thin films by reactive arc evaporation in vacuum and with complex analysis properties and behaviour of systems thin film - substrate with calculation for future practice use of this systems.

Rok uplatnění
1999
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název knihy nebo sborníku
Komplexní hodnocení vlastností systémů tenká vrstva - substrát s přiblížením pro praktické využití
ISBN
8022712558
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
—
Počet stran knihy
—
Název nakladatele
Slovenská technická univerzita
Místo vydání
Bratislava
Kód UT WoS kapitoly
—

Podobné výsledky(10)