Metrika DPMO jako možnost optimalizace výroby PCB

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23220%2F06%3A00000172" target="_blank" >RIV/49777513:23220/06:00000172 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Metric DPMO As Possibility of PCB Assembly Optimation

Popis výsledku v původním jazyce

This paper describes today´s situation on the field of failures detection and yield measurement in the electronics manufacturing industry. An overview of the several well-known metrics (Yield and First Pass Yield) is briefly presented including the description of their properties and weaknesses. The main part of this work is focused on new technique DPMO (Defect per Million Opportunities) introduced by IPC. However, there are still some companies using the older metrics despite the fact they are facingthe assembly issues. This work describes how the DPMO can be used in electronics assembly lines either for prediction of the faults or strategic decision making.

Název v anglickém jazyce

Metric DPMO As Possibility of PCB Assembly Optimation

Popis výsledku anglicky

This paper describes today´s situation on the field of failures detection and yield measurement in the electronics manufacturing industry. An overview of the several well-known metrics (Yield and First Pass Yield) is briefly presented including the description of their properties and weaknesses. The main part of this work is focused on new technique DPMO (Defect per Million Opportunities) introduced by IPC. However, there are still some companies using the older metrics despite the fact they are facingthe assembly issues. This work describes how the DPMO can be used in electronics assembly lines either for prediction of the faults or strategic decision making.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Rok uplatnění

2006

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceedings of the 6th international conference Elektro 2006

ISBN

80-8070-544-5

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

3

Strana od-do

84-86

Název nakladatele

EDIS-Žilina University publishers

Místo vydání

Žilina

Místo konání akce

Žilina

Datum konání akce

1. 1. 2006

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—