Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Defect Level Prediction of Printed Circuit Board Assembly Manufacturing based on DPMO Metric

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23220%2F11%3A43924998" target="_blank" >RIV/49777513:23220/11:43924998 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?arnumber=05744196" target="_blank" >http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?arnumber=05744196</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Defect Level Prediction of Printed Circuit Board Assembly Manufacturing based on DPMO Metric

  • Popis výsledku v původním jazyce

    This paper presents a defect level prediction tool based on Defects per Million Opportunities (DPMO) metric, which is intended for newly designed printed circuit board assemblies (PCBAs), especially ones determined for automotive industry. Due to this tool is possible to analyze and assess test strategy alternatives by using the estimated defects.

  • Název v anglickém jazyce

    Defect Level Prediction of Printed Circuit Board Assembly Manufacturing based on DPMO Metric

  • Popis výsledku anglicky

    This paper presents a defect level prediction tool based on Defects per Million Opportunities (DPMO) metric, which is intended for newly designed printed circuit board assemblies (PCBAs), especially ones determined for automotive industry. Due to this tool is possible to analyze and assess test strategy alternatives by using the estimated defects.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JS - Řízení spolehlivosti a kvality, zkušebnictví

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2011

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Electronic Version of the Proceedings of the 8th Spanish Conference on Electron Devices

  • ISBN

    978-1-4244-7863-7

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    195-198

  • Název nakladatele

    Universitat de les Illes Balears

  • Místo vydání

    Palma de Mallorca, Španělsko

  • Místo konání akce

    Palma de Mallorca, Španělsko

  • Datum konání akce

    8. 2. 2011

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku