Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Mechanical Strength of Aged Solder Joints: Impact of Plasma Treatment

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23220%2F25%3A43975936" target="_blank" >RIV/49777513:23220/25:43975936 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="https://ieeexplore.ieee.org/document/11120910" target="_blank" >https://ieeexplore.ieee.org/document/11120910</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1109/ISSE65583.2025.11120910" target="_blank" >10.1109/ISSE65583.2025.11120910</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Mechanical Strength of Aged Solder Joints: Impact of Plasma Treatment

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The reliability of solder joints, crucial for electronic assemblies, is influenced by factors including intermetallic compound (IMC) growth during aging and surface properties. This study investigated the impact of atmospheric plasma pre-treatment on the shear strength and IMC formation of aged (thermal aging and thermal shock) SAC305 solder joints on various PCB finishes (Cu, ImT, HASL, ENIG). Shear testing revealed that plasma treatment had a limited effect on mechanical strength under the applied test conditions. Fracture mode analysis indicated that failures predominantly occurred at the component’s lead metallization, suggesting that component quality was the limiting factor, masking potential effects of the plasma treatment applied to the PCB pads. Thermal shock aging was observed to be more detrimental to joint strength than thermal aging, particularly affecting the component-level integrity. IMC analysis showed expected growth with thermal aging. Plasma treatment had negligible impact on IMC thickness for ENIG finish, while an unexpected trend of reduced IMC thickness was observed for HASL finish, warranting further investigation. The study highlights the critical role of component robustness in reliability testing and suggests its potential to overshadow the influence of PCB surface treatments.

  • Název v anglickém jazyce

    Mechanical Strength of Aged Solder Joints: Impact of Plasma Treatment

  • Popis výsledku anglicky

    The reliability of solder joints, crucial for electronic assemblies, is influenced by factors including intermetallic compound (IMC) growth during aging and surface properties. This study investigated the impact of atmospheric plasma pre-treatment on the shear strength and IMC formation of aged (thermal aging and thermal shock) SAC305 solder joints on various PCB finishes (Cu, ImT, HASL, ENIG). Shear testing revealed that plasma treatment had a limited effect on mechanical strength under the applied test conditions. Fracture mode analysis indicated that failures predominantly occurred at the component’s lead metallization, suggesting that component quality was the limiting factor, masking potential effects of the plasma treatment applied to the PCB pads. Thermal shock aging was observed to be more detrimental to joint strength than thermal aging, particularly affecting the component-level integrity. IMC analysis showed expected growth with thermal aging. Plasma treatment had negligible impact on IMC thickness for ENIG finish, while an unexpected trend of reduced IMC thickness was observed for HASL finish, warranting further investigation. The study highlights the critical role of component robustness in reliability testing and suggests its potential to overshadow the influence of PCB surface treatments.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20201 - Electrical and electronic engineering

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2025

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    2025 International Spring Seminar on Electronics Technology (ISSE)

  • ISBN

    979-8-3315-1216-3

  • ISSN

    2161-2528

  • e-ISSN

    2161-2536

  • Počet stran výsledku

    6

  • Strana od-do

    1-6

  • Název nakladatele

    IEEE

  • Místo vydání

    Piscaway

  • Místo konání akce

    Budapešť, Hungary

  • Datum konání akce

    14. 5. 2025

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku