Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Vrstvy Ti-Si-N s vysokým obsahem Si

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23520%2F07%3A00000289" target="_blank" >RIV/49777513:23520/07:00000289 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Ti-Si-N Films with a High Content of Si

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The article reports on mechanical properties and oxidation of amorphous Ti-Si-N films with a high content of Si reactively sputtered using a closed magnetic field dual magnetron sputtering system operating in AC pulse mode. The films were sputtered fromcompound targets on Si, 15330 steel and Al2O3 substrates. It was found that the Ti-Si-N films with a high content of N are X-ray amorphous and exhibit relatively high hardness H ranging from 20 to 27 GPa and high oxidation temperature achieving 1480°C for the Ti-Si-N film on the Al2O3 substrate, and Young's modulus of the films is strongly affected by mechanical properties of the substrate.

  • Název v anglickém jazyce

    Ti-Si-N Films with a High Content of Si

  • Popis výsledku anglicky

    The article reports on mechanical properties and oxidation of amorphous Ti-Si-N films with a high content of Si reactively sputtered using a closed magnetic field dual magnetron sputtering system operating in AC pulse mode. The films were sputtered fromcompound targets on Si, 15330 steel and Al2O3 substrates. It was found that the Ti-Si-N films with a high content of N are X-ray amorphous and exhibit relatively high hardness H ranging from 20 to 27 GPa and high oxidation temperature achieving 1480°C for the Ti-Si-N film on the Al2O3 substrate, and Young's modulus of the films is strongly affected by mechanical properties of the substrate.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BL - Fyzika plasmatu a výboje v plynech

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2007

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Plasma Processes and Polymers

  • ISSN

    1612-8850

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

  • Číslo periodika v rámci svazku

  • Stát vydavatele periodika

    DE - Spolková republika Německo

  • Počet stran výsledku

    1

  • Strana od-do

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus