Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Gradient mřížkového napětí ve vrstvách ZnO:Al deponovaných naprašováním na skleněných podložkách

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23640%2F06%3A00000031" target="_blank" >RIV/49777513:23640/06:00000031 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    čeština

  • Název v původním jazyce

    Gradient mřížkového napětí ve vrstvách ZnO:Al deponovaných naprašováním na skleněných podložkách

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Oxid zinečnatý je atraktivní materiál s mnoha aplikacemi v mikroelektronice, zvláště v mikrosystémech a fotovoltaických technologiích. Tenké vrstvy ZnO dopované hliníkem jsou používané v solárních článcích jako transparentní vodivé oxidy (TCO). V tomto příspěvku je ukázána metoda určení gradientu mřížkového napětí ve vrstvách ZnO:Al pomocí rtg difrakčni analýzy z asymetrického profilu linie. Rtg analýza ukázala, že gradient mřížkového napětí ve vrstvách ZnO závisí na depozičních parametrech a na použitém substrátu.

  • Název v anglickém jazyce

    Lattice stress gradient in ZnO:Al films sputtered on glass substrates

  • Popis výsledku anglicky

    Zinc oxide is an attractive material with many applications in the microelectronics, especially in the domain of microsystem and photovolaic technology. Zinc oxide thin films doped by aluminium (ZnO:Al) are applying to solar cells as transparent conducive oxides (TCO). In this paper a simple method to determine the lattice stress gradients in ZnO films by using the X-ray diffraction (XRD) analysis of asymmetric line profiles is presented. XRD analysis indicated that lattice stress gradients in ZnO thinfilms depend on the deposition parameters and substrate material used.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/1M06031" target="_blank" >1M06031: Materiály a komponenty pro ochranu životního prostředí</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2006

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Lokální mechanické vlastnosti 2006

  • ISBN

    80-7043-512-7

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    5

  • Strana od-do

    168-172

  • Název nakladatele

    Západočeská univerzita

  • Místo vydání

    Plzeň

  • Místo konání akce

    Nečtiny

  • Datum konání akce

    1. 1. 2006

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    EUR - Evropská akce

  • Kód UT WoS článku