Dispersive and BEMA investigation on optical properties of photovoltaic thin films

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23640%2F14%3A43924797" target="_blank" >RIV/49777513:23640/14:43924797 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1117/12.2086805" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1117/12.2086805</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1117/12.2086805" target="_blank" >10.1117/12.2086805</a>

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Dispersive and BEMA investigation on optical properties of photovoltaic thin films
Popis výsledku v původním jazyce
The paper reports results obtained from optical spectrophotometry complemented with data from FTIR, Raman scattering and XRD measurements to characterize hydrogenated silicon (Si:H) thin films deposited by PECVD deposition from silane - argon plasma diluted with hydrogen. The dispersive optical properties and microstructure have been determined as a function of the hydrogen dilution which has been found to result in an inhomogeneous growth during which the material evolves from amorphous Si:H to microcrystalline Si:H.
Název v anglickém jazyce
Dispersive and BEMA investigation on optical properties of photovoltaic thin films
Popis výsledku anglicky
The paper reports results obtained from optical spectrophotometry complemented with data from FTIR, Raman scattering and XRD measurements to characterize hydrogenated silicon (Si:H) thin films deposited by PECVD deposition from silane - argon plasma diluted with hydrogen. The dispersive optical properties and microstructure have been determined as a function of the hydrogen dilution which has been found to result in an inhomogeneous growth during which the material evolves from amorphous Si:H to microcrystalline Si:H.

Projekt
<a href="/cs/project/ED2.1.00%2F03.0088" target="_blank" >ED2.1.00/03.0088: Centrum nových technologií a materiálů (CENTEM)</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění
2014
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
ISBN
978-1-62841-556-8
ISSN
0277-786X
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
7
Strana od-do
"'94411J.1'"-"'94411J.7'"
Název nakladatele
SPIE
Místo vydání
Bellingham
Místo konání akce
Wojanov Palace Jelenia Gora, Polsko
Datum konání akce
8. 10. 2014
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—

Podobné výsledky(10)