Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

The thermal stability of laser annealed contacts based on palladium

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F60461373%3A22310%2F00%3A00004387" target="_blank" >RIV/60461373:22310/00:00004387 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    The thermal stability of laser annealed contacts based on palladium

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The thermal stability of W/Pt/doping element/Pd and Pt/doping element/Pd ohmic contacts with Ge, Si, and Sn in the position of doping elements were investigated. Two stability tests were made, the first at 400 oC and the second at 195 oC.

  • Název v anglickém jazyce

    The thermal stability of laser annealed contacts based on palladium

  • Popis výsledku anglicky

    The thermal stability of W/Pt/doping element/Pd and Pt/doping element/Pd ohmic contacts with Ge, Si, and Sn in the position of doping elements were investigated. Two stability tests were made, the first at 400 oC and the second at 195 oC.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/GA106%2F99%2F1437" target="_blank" >GA106/99/1437: Příprava citlivých vrstev chemických senzorů pomocí impulsní laserové depozice</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2000

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Microelectronic Engineering

  • ISSN

    0167-9317

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    54

  • Číslo periodika v rámci svazku

    3

  • Stát vydavatele periodika

    NL - Nizozemsko

  • Počet stran výsledku

    7

  • Strana od-do

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus