Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Femtosecond and highly sensitive GaAs metal?semiconductor?metal photodetectors grown on aluminum mirrors/pseudo-substrates

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F60461373%3A22310%2F10%3A00022997" target="_blank" >RIV/60461373:22310/10:00022997 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Femtosecond and highly sensitive GaAs metal?semiconductor?metal photodetectors grown on aluminum mirrors/pseudo-substrates

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Ultrafast metal-semiconductor-metal photodetectors on GaAs grown on aluminum mirrors/pseudo-substrates were fabricated and tested. Surface characterization measurements reveal the good quality of the surface morphology, while X-ray diffraction measurements show several crystallographic orientations of the GaAs layer. The material exhibits a 50 fs carrier lifetime due to growth-induced defects. The response of the photodetectors shows a full width at half maximum of 300 fs. These results demonstrate thatthe growth of GaAs layers on lattice-mismatched metallic substrates with a high thermal conductivity is a promising approach for low-cost and large-area fabrication of electronic and ultrafast photonic devices that require a highly effective thermal drain.

  • Název v anglickém jazyce

    Femtosecond and highly sensitive GaAs metal?semiconductor?metal photodetectors grown on aluminum mirrors/pseudo-substrates

  • Popis výsledku anglicky

    Ultrafast metal-semiconductor-metal photodetectors on GaAs grown on aluminum mirrors/pseudo-substrates were fabricated and tested. Surface characterization measurements reveal the good quality of the surface morphology, while X-ray diffraction measurements show several crystallographic orientations of the GaAs layer. The material exhibits a 50 fs carrier lifetime due to growth-induced defects. The response of the photodetectors shows a full width at half maximum of 300 fs. These results demonstrate thatthe growth of GaAs layers on lattice-mismatched metallic substrates with a high thermal conductivity is a promising approach for low-cost and large-area fabrication of electronic and ultrafast photonic devices that require a highly effective thermal drain.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    CA - Anorganická chemie

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/GA104%2F09%2F0621" target="_blank" >GA104/09/0621: Magnetické polovodiče na bázi ZnO</a><br>

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2010

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Semiconductor Science and Technology

  • ISSN

    0268-1242

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    25

  • Číslo periodika v rámci svazku

    7

  • Stát vydavatele periodika

    GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

  • Kód UT WoS článku

    000279319600001

  • EID výsledku v databázi Scopus