AFM diagnostics of graphene-based quantum Hall devices

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61388955%3A_____%2F12%3A00384166" target="_blank" >RIV/61388955:_____/12:00384166 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.micron.2011.11.010" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1016/j.micron.2011.11.010</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.micron.2011.11.010" target="_blank" >10.1016/j.micron.2011.11.010</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

AFM diagnostics of graphene-based quantum Hall devices

Popis výsledku v původním jazyce

In this paper we present the results of morphological, mechanical and electrical investigation of the properties of prepared graphene flakes and graphene-based quantum Hall devices. AFM imaging allowed us to identify the local imperfections and unintentional modifications of the graphene sheets which had caused severe deterioration of the device electrical performance. Utilizing the NanoSwing imaging method, based on the time-resolved tapping mode, we could observe non-homogeneities of the structural and mechanical properties. We also diagnosed the device under working conditions by Kelvin probe microscopy and detected its local electric field distribution.

Název v anglickém jazyce

AFM diagnostics of graphene-based quantum Hall devices

Popis výsledku anglicky

In this paper we present the results of morphological, mechanical and electrical investigation of the properties of prepared graphene flakes and graphene-based quantum Hall devices. AFM imaging allowed us to identify the local imperfections and unintentional modifications of the graphene sheets which had caused severe deterioration of the device electrical performance. Utilizing the NanoSwing imaging method, based on the time-resolved tapping mode, we could observe non-homogeneities of the structural and mechanical properties. We also diagnosed the device under working conditions by Kelvin probe microscopy and detected its local electric field distribution.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

CG - Elektrochemie

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2012

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Micron

ISSN

0968-4328

e-ISSN

—

Svazek periodika

43

Číslo periodika v rámci svazku

2-3

Stát vydavatele periodika

GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

Počet stran výsledku

8

Strana od-do

479-486

Kód UT WoS článku

000299605300054

EID výsledku v databázi Scopus

—