Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Strain Assessment in Graphene Through the Raman 2D Mode

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61388955%3A_____%2F15%3A00451435" target="_blank" >RIV/61388955:_____/15:00451435 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.1021/acs.jpcc.5b09643" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1021/acs.jpcc.5b09643</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1021/acs.jpcc.5b09643" target="_blank" >10.1021/acs.jpcc.5b09643</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Strain Assessment in Graphene Through the Raman 2D Mode

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Accurate and simple local strain assessment in graphene is one of the crucial tasks in device characterization. Raman spectroscopy is often used for that purpose through monitoring of the G and 2D modes. However, the shifts of those two bands might be biased, especially under uniaxial strain, by the effects of charge-transfer doping. Therefore, it is extremely desirable to use another Raman band, less affected by doping, but with a defined and measurable behavior under strain. The Raman 2D mode is in this sense the ideal feature for the evaluation of strain levels in stretched graphene monolayers, suitable for this task even under different experimental conditions. The sensitivity and accuracy of the approach through 2D mode is on the same level as through the G mode; however, the clear advantage of the 2D arises when doping effects are present in the sample.

  • Název v anglickém jazyce

    Strain Assessment in Graphene Through the Raman 2D Mode

  • Popis výsledku anglicky

    Accurate and simple local strain assessment in graphene is one of the crucial tasks in device characterization. Raman spectroscopy is often used for that purpose through monitoring of the G and 2D modes. However, the shifts of those two bands might be biased, especially under uniaxial strain, by the effects of charge-transfer doping. Therefore, it is extremely desirable to use another Raman band, less affected by doping, but with a defined and measurable behavior under strain. The Raman 2D mode is in this sense the ideal feature for the evaluation of strain levels in stretched graphene monolayers, suitable for this task even under different experimental conditions. The sensitivity and accuracy of the approach through 2D mode is on the same level as through the G mode; however, the clear advantage of the 2D arises when doping effects are present in the sample.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    CF - Fyzikální chemie a teoretická chemie

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2015

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Journal of Physical Chemistry C

  • ISSN

    1932-7447

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    119

  • Číslo periodika v rámci svazku

    45

  • Stát vydavatele periodika

    US - Spojené státy americké

  • Počet stran výsledku

    6

  • Strana od-do

    25651-25656

  • Kód UT WoS článku

    000364796300056

  • EID výsledku v databázi Scopus

    2-s2.0-84946887554