Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Effect of 2 MeV W+ ion irradiation on the surface morphology of Sc:In:C and Zr:In:C thin films

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61388980%3A_____%2F21%3A00549162" target="_blank" >RIV/61388980:_____/21:00549162 - isvavai.cz</a>

  • Nalezeny alternativní kódy

    RIV/61389005:_____/21:00549162

  • Výsledek na webu

    <a href="https://doi.org/10.1080/10420150.2021.1999240" target="_blank" >https://doi.org/10.1080/10420150.2021.1999240</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1080/10420150.2021.1999240" target="_blank" >10.1080/10420150.2021.1999240</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Effect of 2 MeV W+ ion irradiation on the surface morphology of Sc:In:C and Zr:In:C thin films

  • Popis výsledku v původním jazyce

    In this work, a comparative study of surface morphology and elemental distribution of thin films of the M:ln:C (with M = Sc or Zr) ternary composites irradiated with 2 MeV W+ ions with fluences 10(14) cm(-2 )and 10(15) cm(-2) was carried out. The films were prepared by ion beam sputtering of the M, In and C targets followed by thermal annealing in a high vacuum. The surface morphology was monitored by Atomic Force Microscopy (AFM), and the elemental composition by Rutherford Backscattering Spectroscopy (RBS) in the regime of elastic scattering (2000 keV He+ ions energy) and nuclear resonant scattering (3046 and 4280 keV He+ ions for O and C resonances, respectively). It has been shown that both deployed modifications (thermal annealing and ion beam irradiation) seriously affect the surface morphology and the elemental distribution of both composites. It turned out that the main reason for the changes is a decrease in the content of indium in the composites, which after irradiation with a high fluence of 10(15) cm(-2) decreased to almost zero. It also turned out that the morphological changes take place differently in the inspected composites - more significantly in Zr:In:C, less in Sc:In:C.

  • Název v anglickém jazyce

    Effect of 2 MeV W+ ion irradiation on the surface morphology of Sc:In:C and Zr:In:C thin films

  • Popis výsledku anglicky

    In this work, a comparative study of surface morphology and elemental distribution of thin films of the M:ln:C (with M = Sc or Zr) ternary composites irradiated with 2 MeV W+ ions with fluences 10(14) cm(-2 )and 10(15) cm(-2) was carried out. The films were prepared by ion beam sputtering of the M, In and C targets followed by thermal annealing in a high vacuum. The surface morphology was monitored by Atomic Force Microscopy (AFM), and the elemental composition by Rutherford Backscattering Spectroscopy (RBS) in the regime of elastic scattering (2000 keV He+ ions energy) and nuclear resonant scattering (3046 and 4280 keV He+ ions for O and C resonances, respectively). It has been shown that both deployed modifications (thermal annealing and ion beam irradiation) seriously affect the surface morphology and the elemental distribution of both composites. It turned out that the main reason for the changes is a decrease in the content of indium in the composites, which after irradiation with a high fluence of 10(15) cm(-2) decreased to almost zero. It also turned out that the morphological changes take place differently in the inspected composites - more significantly in Zr:In:C, less in Sc:In:C.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    10402 - Inorganic and nuclear chemistry

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/GA18-21677S" target="_blank" >GA18-21677S: Mikrostrukturní analýza MAX a MXene nanolaminátů s vysokou radiační odolností</a><br>

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2021

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Radiation Effects and Defects in Solids

  • ISSN

    1042-0150

  • e-ISSN

    1029-4953

  • Svazek periodika

    176

  • Číslo periodika v rámci svazku

    11-12

  • Stát vydavatele periodika

    GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

  • Počet stran výsledku

    16

  • Strana od-do

    1049-1064

  • Kód UT WoS článku

    000722805300001

  • EID výsledku v databázi Scopus

    2-s2.0-85119998601