Thickness dependence of nanofilm elastic modulus

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61388998%3A_____%2F09%3A00323549" target="_blank" >RIV/61388998:_____/09:00323549 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Thickness dependence of nanofilm elastic modulus
Popis výsledku v původním jazyce
Young?s modulus is a fundamental physical parameter that determines both the mechanic and electronic properties of a solid thin film. In here, we show that the elastic modulus is not a constant as that of conventional treatment but varies with film thickness. It has been shown that there exists some film thickness hb when the surface energy comes into play. The hb is inverse proportional to the bulk Young?s modulus and depends strongly on the in-plain strain. For Si nanofilms, the dimensionless elasticmodulus E/Ebulk can be presented as a power function of the dimensionless film thickness h/hb.
Název v anglickém jazyce
Thickness dependence of nanofilm elastic modulus
Popis výsledku anglicky
Young?s modulus is a fundamental physical parameter that determines both the mechanic and electronic properties of a solid thin film. In here, we show that the elastic modulus is not a constant as that of conventional treatment but varies with film thickness. It has been shown that there exists some film thickness hb when the surface energy comes into play. The hb is inverse proportional to the bulk Young?s modulus and depends strongly on the in-plain strain. For Si nanofilms, the dimensionless elasticmodulus E/Ebulk can be presented as a power function of the dimensionless film thickness h/hb.

Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—

Rok uplatnění
2009
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)