Wrinkled SiGe nanofilms as a source of terahertz radiation

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61388998%3A_____%2F14%3A00434615" target="_blank" >RIV/61388998:_____/14:00434615 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1109/ISOT.2014.37" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1109/ISOT.2014.37</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1109/ISOT.2014.37" target="_blank" >10.1109/ISOT.2014.37</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Wrinkled SiGe nanofilms as a source of terahertz radiation

Popis výsledku v původním jazyce

We demonstrate that the wrinkled Si1?xGex/Si1?y Gey films can serve as radiation sources, which emit electromagnetic waves in a very wide range of the frequencies including the terahertz band from 0.3 to 3 THz. The emission mechanism is based on the change of acceleration of carriers, when they travel along the sinusoidal trajectory in wrinkled Si1? xGex/Si1?yGey films, a manner similar to synchrotron radiation with undulators, or like a free-electron laser.

Název v anglickém jazyce

Wrinkled SiGe nanofilms as a source of terahertz radiation

Popis výsledku anglicky

We demonstrate that the wrinkled Si1?xGex/Si1?y Gey films can serve as radiation sources, which emit electromagnetic waves in a very wide range of the frequencies including the terahertz band from 0.3 to 3 THz. The emission mechanism is based on the change of acceleration of carriers, when they travel along the sinusoidal trajectory in wrinkled Si1? xGex/Si1?yGey films, a manner similar to synchrotron radiation with undulators, or like a free-electron laser.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/LH12042" target="_blank" >LH12042: Mikro-optický snímač viskozity kapalin, využívající ztráty intensity světla při ohybu kmitajícího vlákna</a><br>

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2014

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

ISOT 2014 : International symposium on optomechatronic technologies

ISBN

978-1-4799-6666-0

ISSN

1063-6900

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

121-124

Název nakladatele

I E E E Computer Society

Místo vydání

Danvers

Místo konání akce

Seattle, Washington

Datum konání akce

5. 11. 2014

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—