Vše
Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Emission of volatile degradation products from polymers irradiated with heavy ions to different fluences.

Popis výsledku

Identifikátory výsledku

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Emission of volatile degradation products from polymers irradiated with heavy ions to different fluences.

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Polyimide (Upilex), polyethyleneterephtalate, polystyrene and polyethylene were irradiated with 20-200 KeV C+, N+, F+, Ar and Xe+ ions to the fluences up to 10(17)cm(-2) and the depth profiles of hydrogen and oxygen atoms in the polymer surface layer were determined using standard Rutherford Back-Scattering (RBS) and Elastic Recoil Detection (ERD) techniques. The H and O depth profiles are structureless with no local extremes and with the concentration monotonically increasing from the sample surface tothe bulk value typical for pristine polymer. The H and O contents in the irradiated surface layer remain unchanged up to a criticll fluence, which is a decrasing function of the energy density deposited by an ion. Then they decline rather rapidly and converge to 50-70% of their original values of unirradiated polymer. The decline rate is roughly the same for all ion/polymer combinations regardless of the ion mass and energy.

  • Název v anglickém jazyce

    Emission of volatile degradation products from polymers irradiated with heavy ions to different fluences.

  • Popis výsledku anglicky

    Polyimide (Upilex), polyethyleneterephtalate, polystyrene and polyethylene were irradiated with 20-200 KeV C+, N+, F+, Ar and Xe+ ions to the fluences up to 10(17)cm(-2) and the depth profiles of hydrogen and oxygen atoms in the polymer surface layer were determined using standard Rutherford Back-Scattering (RBS) and Elastic Recoil Detection (ERD) techniques. The H and O depth profiles are structureless with no local extremes and with the concentration monotonically increasing from the sample surface tothe bulk value typical for pristine polymer. The H and O contents in the irradiated surface layer remain unchanged up to a criticll fluence, which is a decrasing function of the energy density deposited by an ion. Then they decline rather rapidly and converge to 50-70% of their original values of unirradiated polymer. The decline rate is roughly the same for all ion/polymer combinations regardless of the ion mass and energy.

Klasifikace

  • Druh

    Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BG - Jaderná, atomová a molekulová fyzika, urychlovače

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2002

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Radiation effects and defects in solid

  • ISSN

    1042-0150

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    155

  • Číslo periodika v rámci svazku

    1-4

  • Stát vydavatele periodika

    US - Spojené státy americké

  • Počet stran výsledku

    8

  • Strana od-do

    195-202

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus

Druh výsledku

Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

Jx

CEP

BG - Jaderná, atomová a molekulová fyzika, urychlovače

Rok uplatnění

2002