High-fluence implantation of iron into polyimide.

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61389005%3A_____%2F02%3A49020069" target="_blank" >RIV/61389005:_____/02:49020069 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

High-fluence implantation of iron into polyimide.

Popis výsledku v původním jazyce

Polymide-Kapton (PI) foils were implanted with 40 keV Fe.sup.+./sup. ions to a fluence of 0.25 x 10.sub.17./sup., 0,75 x 10.sub.17./sup. and 1.25 x 10.sub.17./sup. cm.sub.-2 ./sup. at ion current density of 4, 8 and 12 .mu.A cm.sub.-2./sup. The structureand composition of the modified PI were studied using Rutherford backscattering spectroscopy (RBS), proton-induced X-ray emission (PIXE) and transmission electron microscopy (TEM). A carbonaceous layer filled with up to 25 at. of agglomerated metal particles is formed under the sample surface. Anomalous depth profiles of the implanted metal atoms, consisting of a strong near-surface peak and two weaker ones under the implanted layer, are observed. Possible mechanisms of the metal redistribution after implantation are discussed. The depth profiles of the implanted metals are not influenced by increasing ion current density. Under thermal annealing at 300 .mult.C for 120 min, slow inward diffusion of Fe atoms is observed with diffusion c

Název v anglickém jazyce

High-fluence implantation of iron into polyimide.

Popis výsledku anglicky

Polymide-Kapton (PI) foils were implanted with 40 keV Fe.sup.+./sup. ions to a fluence of 0.25 x 10.sub.17./sup., 0,75 x 10.sub.17./sup. and 1.25 x 10.sub.17./sup. cm.sub.-2 ./sup. at ion current density of 4, 8 and 12 .mu.A cm.sub.-2./sup. The structureand composition of the modified PI were studied using Rutherford backscattering spectroscopy (RBS), proton-induced X-ray emission (PIXE) and transmission electron microscopy (TEM). A carbonaceous layer filled with up to 25 at. of agglomerated metal particles is formed under the sample surface. Anomalous depth profiles of the implanted metal atoms, consisting of a strong near-surface peak and two weaker ones under the implanted layer, are observed. Possible mechanisms of the metal redistribution after implantation are discussed. The depth profiles of the implanted metals are not influenced by increasing ion current density. Under thermal annealing at 300 .mult.C for 120 min, slow inward diffusion of Fe atoms is observed with diffusion c

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BG - Jaderná, atomová a molekulová fyzika, urychlovače

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2002

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Surface and Coatings Technology

ISSN

0257-8972

e-ISSN

—

Svazek periodika

158/159

Číslo periodika v rámci svazku

N/A

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

395-398

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—