Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

SiC detector for high helium energy spectroscopy

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61389005%3A_____%2F18%3A00493863" target="_blank" >RIV/61389005:_____/18:00493863 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2018.06.067" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2018.06.067</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2018.06.067" target="_blank" >10.1016/j.nima.2018.06.067</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    SiC detector for high helium energy spectroscopy

  • Popis výsledku v původním jazyce

    SiC Schottky detectors, having a superficial active zone up to 80 micron depths and a thin surface metallization, are adapt to detect high energetic ions. In order to demonstrate their detection ability with high-energy resolution, a helium Rutherford backscattering spectroscopy (RBS) was employed to evaluate their detection efficiency, energy resolution in the region 1.0 - 6.0 MeV alpha ions, depth resolution and dependence on the ion beam current. The detector parameters dependencies on the surface passivation layers, ion energy and current are presented. The comparison of RBS analysis using a traditional barrier silicon detector is investigated, and the differences with SiC detector is presented and discussed.

  • Název v anglickém jazyce

    SiC detector for high helium energy spectroscopy

  • Popis výsledku anglicky

    SiC Schottky detectors, having a superficial active zone up to 80 micron depths and a thin surface metallization, are adapt to detect high energetic ions. In order to demonstrate their detection ability with high-energy resolution, a helium Rutherford backscattering spectroscopy (RBS) was employed to evaluate their detection efficiency, energy resolution in the region 1.0 - 6.0 MeV alpha ions, depth resolution and dependence on the ion beam current. The detector parameters dependencies on the surface passivation layers, ion energy and current are presented. The comparison of RBS analysis using a traditional barrier silicon detector is investigated, and the differences with SiC detector is presented and discussed.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    10304 - Nuclear physics

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2018

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A

  • ISSN

    0168-9002

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    903

  • Číslo periodika v rámci svazku

    9

  • Stát vydavatele periodika

    NL - Nizozemsko

  • Počet stran výsledku

    8

  • Strana od-do

    309-316

  • Kód UT WoS článku

    000444422200038

  • EID výsledku v databázi Scopus

    2-s2.0-85050504268