Optical properties and scanning probe microscopy study of some Ag-As-S-Se amorphous films

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61389013%3A_____%2F09%3A00326903" target="_blank" >RIV/61389013:_____/09:00326903 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Optical properties and scanning probe microscopy study of some Ag-As-S-Se amorphous films

Popis výsledku v původním jazyce

Doping of As-S-Se amorphous films by silver photo-dissolution leads to a decrease of the optical gap and to an increase of the refractive index in forming Ag-As-S-Se films. The difference of the optical gap and refractive index between undoped and dopedfilms has been found in case of Ag15As26S29Se30 film up to 0.37 eV and 0.26, respectively. The materials were studied by means of Transreflectance in far infrared spectral region (formation of AgAsS2 and AgAsSe2 entities), scanning probe microscopy, namely atomic force microscopy, atomic force acoustic microscopy and Kelvin probe force microscopy (nano/meso inhomogeneities of the surface and near surface density/stiffness/surface electric potential).

Název v anglickém jazyce

Optical properties and scanning probe microscopy study of some Ag-As-S-Se amorphous films

Popis výsledku anglicky

Doping of As-S-Se amorphous films by silver photo-dissolution leads to a decrease of the optical gap and to an increase of the refractive index in forming Ag-As-S-Se films. The difference of the optical gap and refractive index between undoped and dopedfilms has been found in case of Ag15As26S29Se30 film up to 0.37 eV and 0.26, respectively. The materials were studied by means of Transreflectance in far infrared spectral region (formation of AgAsS2 and AgAsSe2 entities), scanning probe microscopy, namely atomic force microscopy, atomic force acoustic microscopy and Kelvin probe force microscopy (nano/meso inhomogeneities of the surface and near surface density/stiffness/surface electric potential).

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

CA - Anorganická chemie

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2009

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Thin Solid Films

ISSN

0040-6090

e-ISSN

—

Svazek periodika

517

Číslo periodika v rámci svazku

20

Stát vydavatele periodika

CH - Švýcarská konfederace

Počet stran výsledku

5

Strana od-do

—

Kód UT WoS článku

000267725100031

EID výsledku v databázi Scopus

—