Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Structural and optical studies of a-Si:H thin films: From amorphous to nanocrystalline silicon

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23640%2F05%3A00503392" target="_blank" >RIV/49777513:23640/05:00503392 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Structural and optical studies of a-Si:H thin films: From amorphous to nanocrystalline silicon

  • Popis výsledku v původním jazyce

    We report on the results of the investigation of surface morphology, structure and optical properties of plasma deposited thin films of hydrogenated amorphous silicon determined by atomic force microscopy, X-ray diffraction and UV-Vis and IR spectroscopy. The influence of the both hydrogen dilution of silane plasma in the plasma deposition and the film thickness on the film properties was investigated. The structure, the refractive index and the optical band gap of the dilution series and the thicknessseries were analyzed.

  • Název v anglickém jazyce

    Structural and optical studies of a-Si:H thin films: From amorphous to nanocrystalline silicon

  • Popis výsledku anglicky

    We report on the results of the investigation of surface morphology, structure and optical properties of plasma deposited thin films of hydrogenated amorphous silicon determined by atomic force microscopy, X-ray diffraction and UV-Vis and IR spectroscopy. The influence of the both hydrogen dilution of silane plasma in the plasma deposition and the film thickness on the film properties was investigated. The structure, the refractive index and the optical band gap of the dilution series and the thicknessseries were analyzed.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/LN00B084" target="_blank" >LN00B084: Nové technologie Výzkumné centrum v Západočeském regionu</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2005

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Acta Physica Slovaca

  • ISSN

    0323-0465

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    55

  • Číslo periodika v rámci svazku

    3

  • Stát vydavatele periodika

    SK - Slovenská republika

  • Počet stran výsledku

    9

  • Strana od-do

  • Kód UT WoS článku

    000229323000011

  • EID výsledku v databázi Scopus