A new method of determination of ablation threshold contour in the spot of focused XUV laser beam of nanosecond duration
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61389021%3A_____%2F13%3A00423048" target="_blank" >RIV/61389021:_____/13:00423048 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1117/12.2020261" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1117/12.2020261</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1117/12.2020261" target="_blank" >10.1117/12.2020261</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
A new method of determination of ablation threshold contour in the spot of focused XUV laser beam of nanosecond duration
Popis výsledku v původním jazyce
For nanosecond laser pulses the material removal efficiency in the desorption zone spans from 0 to 90% and, hence, it is transition to 100% characteristic for ablation zone is hardly distinguishable. Therefore, it is suggested to use nanopatterning (appearing only in the desorption zone) for determination the ablation contour: the sample is illuminated through a proximity standing grid and regions, where a diffraction pattern appears belong to the desorption zone (examples are shown). Since the diffraction pattern is engraved in the ?windows of the grid only, a homogeneous nanopatterning with interferometer is proposed. A new type of XUV interferometer is designed and numerically tested.
Název v anglickém jazyce
A new method of determination of ablation threshold contour in the spot of focused XUV laser beam of nanosecond duration
Popis výsledku anglicky
For nanosecond laser pulses the material removal efficiency in the desorption zone spans from 0 to 90% and, hence, it is transition to 100% characteristic for ablation zone is hardly distinguishable. Therefore, it is suggested to use nanopatterning (appearing only in the desorption zone) for determination the ablation contour: the sample is illuminated through a proximity standing grid and regions, where a diffraction pattern appears belong to the desorption zone (examples are shown). Since the diffraction pattern is engraved in the ?windows of the grid only, a homogeneous nanopatterning with interferometer is proposed. A new type of XUV interferometer is designed and numerically tested.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
BL - Fyzika plasmatu a výboje v plynech
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/LG13029" target="_blank" >LG13029: Výzkum v rámci Mezinárodního centra hustého magnetizovaného plazmatu</a><br>
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2013
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Proceedings of SPIE 8777
ISBN
978-0-8194-9579-2
ISSN
0277-786X
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
9
Strana od-do
"87770N"-"87770N"
Název nakladatele
SPIE Press
Místo vydání
Bellingham, Washington
Místo konání akce
Prague
Datum konání akce
15. 4. 2013
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
000329577700018