Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Bulk and interface second harmonic generation in the Si3N4 thin films deposited via ion beam sputtering

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61389021%3A_____%2F21%3A00555694" target="_blank" >RIV/61389021:_____/21:00555694 - isvavai.cz</a>

  • Nalezeny alternativní kódy

    RIV/46747885:24220/21:00008690

  • Výsledek na webu

    <a href="https://iopscience.iop.org/article/10.1088/2040-8986/abe450" target="_blank" >https://iopscience.iop.org/article/10.1088/2040-8986/abe450</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1088/2040-8986/abe450" target="_blank" >10.1088/2040-8986/abe450</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Bulk and interface second harmonic generation in the Si3N4 thin films deposited via ion beam sputtering

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The nonlinear optical second harmonic generation (SHG) in Si3N4 has attracted considerable attention due to a variety of promising applications in optoelectronics. However, reports on SHG in Si3N4 thin films and microstructures lead to diverse conclusions about the SHG origin, pointing towards the Si3N4 bulk, as well as to the Si3N4-Si interface. Here we report on the measurement of polarization-resolved angle-dependent SHG in Si3N4 thin films in the reflective mode. This mode allowed us to measure the nonlinear response of Si3N4 thin films on the Si single crystal substrate. By measuring three samples deposited via ion beam sputtering, we were able to analyze the bulk and interface contributions. We have demonstrated that apart from the bulk SHG, the Si3N4-Si interface contributes with a significant amount of SHG for the thin sample (600 nm). Our result provides a link between the previous measurements in the Si3N4 thin films and on the microstructures.

  • Název v anglickém jazyce

    Bulk and interface second harmonic generation in the Si3N4 thin films deposited via ion beam sputtering

  • Popis výsledku anglicky

    The nonlinear optical second harmonic generation (SHG) in Si3N4 has attracted considerable attention due to a variety of promising applications in optoelectronics. However, reports on SHG in Si3N4 thin films and microstructures lead to diverse conclusions about the SHG origin, pointing towards the Si3N4 bulk, as well as to the Si3N4-Si interface. Here we report on the measurement of polarization-resolved angle-dependent SHG in Si3N4 thin films in the reflective mode. This mode allowed us to measure the nonlinear response of Si3N4 thin films on the Si single crystal substrate. By measuring three samples deposited via ion beam sputtering, we were able to analyze the bulk and interface contributions. We have demonstrated that apart from the bulk SHG, the Si3N4-Si interface contributes with a significant amount of SHG for the thin sample (600 nm). Our result provides a link between the previous measurements in the Si3N4 thin films and on the microstructures.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20506 - Coating and films

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/EF16_026%2F0008390" target="_blank" >EF16_026/0008390: Partnerství pro excelenci v superpřesné optice</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2021

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Journal of Optics

  • ISSN

    2040-8978

  • e-ISSN

    2040-8986

  • Svazek periodika

    23

  • Číslo periodika v rámci svazku

    2

  • Stát vydavatele periodika

    GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

  • Počet stran výsledku

    6

  • Strana od-do

    024003

  • Kód UT WoS článku

    000629544000001

  • EID výsledku v databázi Scopus

    2-s2.0-85103401451