Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Anomaly-Focused Augmentation Method for Industrial Visual Inspection

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61989100%3A27240%2F25%3A10257712" target="_blank" >RIV/61989100:27240/25:10257712 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="https://ieeexplore.ieee.org/document/11003961/authors#authors" target="_blank" >https://ieeexplore.ieee.org/document/11003961/authors#authors</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1109/ACCESS.2025.3570075" target="_blank" >10.1109/ACCESS.2025.3570075</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Anomaly-Focused Augmentation Method for Industrial Visual Inspection

  • Popis výsledku v původním jazyce

    In industrial inspection, the detection of surface defects—such as scratches, dents, or other defects—is crucial for ensuring product quality. However, the limited availability of annotated images of such defects poses challenges for developing reliable detection models. This paper proposes a novel image augmentation algorithm to address this limitation by generating synthetic imperfections from a small sample set. Unlike traditional approaches that augment entire images, the proposed approach isolates defects and applies spatial transformations (e.g., rotation, shear) before blending them into background images. This allows for the creation of diverse training datasets. The algorithm employs a 2D binary map to encode the spatial relationship between defect and background regions of images and then applies an AI-driven model to generate new realistic blended images. By leveraging a generator-discriminator framework, the augmentation process is iteratively refined during training to maintain the style and texture of the original imperfections. Experimental results show that the proposed method significantly enhances the performance of defect detection models compared to existing augmentation techniques while preserving the realism of the generated images.

  • Název v anglickém jazyce

    Anomaly-Focused Augmentation Method for Industrial Visual Inspection

  • Popis výsledku anglicky

    In industrial inspection, the detection of surface defects—such as scratches, dents, or other defects—is crucial for ensuring product quality. However, the limited availability of annotated images of such defects poses challenges for developing reliable detection models. This paper proposes a novel image augmentation algorithm to address this limitation by generating synthetic imperfections from a small sample set. Unlike traditional approaches that augment entire images, the proposed approach isolates defects and applies spatial transformations (e.g., rotation, shear) before blending them into background images. This allows for the creation of diverse training datasets. The algorithm employs a 2D binary map to encode the spatial relationship between defect and background regions of images and then applies an AI-driven model to generate new realistic blended images. By leveraging a generator-discriminator framework, the augmentation process is iteratively refined during training to maintain the style and texture of the original imperfections. Experimental results show that the proposed method significantly enhances the performance of defect detection models compared to existing augmentation techniques while preserving the realism of the generated images.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20200 - Electrical engineering, Electronic engineering, Information engineering

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/EF16_019%2F0000867" target="_blank" >EF16_019/0000867: Centrum výzkumu pokročilých mechatronických systémů</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2025

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    IEEE Access

  • ISSN

    2169-3536

  • e-ISSN

    2169-3536

  • Svazek periodika

    2025

  • Číslo periodika v rámci svazku

    Not specified

  • Stát vydavatele periodika

    US - Spojené státy americké

  • Počet stran výsledku

    25

  • Strana od-do

    10-15

  • Kód UT WoS článku

    001498285200030

  • EID výsledku v databázi Scopus